[发明专利]具有校正装置以考虑串扰的光学距离测量设备有效
申请号: | 201380025794.0 | 申请日: | 2013-03-19 |
公开(公告)号: | CN104303011B | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | A.艾泽勒;B.施密特克 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01C3/08 | 分类号: | G01C3/08;G01C25/00;G01S7/497;G01S17/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 张涛,胡莉莉 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 校正 装置 考虑 光学 距离 测量 设备 | ||
1.用于光学距离测量的测量装置(1),该测量装置(1)具有
发送装置(3),用于向对象(13)发送第一信号(15);
调制装置(5),用于对该第一信号(15)进行调制;
接收装置(7),用于探测第二信号(17);
分析装置(9),用于接收并分析该第二信号(17);
其特征在于,该测量装置(1)另外还具有校正装置(11),该校正装置被实施用于在接通该调制装置(5)并低于可预给定功率阈值来驱动该发送装置(3)的情况下通过从所接收的第二信号(17)中确定系统测量误差来校正该测量装置(1)。
2.根据权利要求1所述的测量装置(1),
其中该校正装置(11)被实施用于在校正该测量装置(1)时对在该接收装置(7)与该调制装置(5)之间的串扰和/或在该分析装置(9)与该调制装置(5)之间的串扰加以考虑。
3.根据权利要求1和2之一所述的测量装置(1),
其中该第二信号(17)在校正时具有光学背景辐射;
其中该第二信号(17)在距离测量时具有光学背景辐射以及从该对象(13)所返回的光学辐射。
4.根据权利要求1至2之一所述的测量装置(1),
其中该接收装置(7)与该分析装置(9)相集成地来实施。
5.根据权利要求1至2之一所述的测量装置(1),
其中该接收装置(7)具有雪崩光电二极管或单光子雪崩二极管。
6.根据权利要求1至2之一所述的测量装置(1),
其中该发送装置(3)作为激光器来实施;
其中该激光器在校正时低于激光器阈值而被驱动。
7.根据权利要求1至2之一所述的测量装置(1),
其中该校正装置(11)被实施用于校正该测量装置(1),其方式是,由该接收装置(7)在距离测量期间所探测的第二信号(17)除以在校正测量期间所探测的第二信号(17)。
8.用于校正根据权利要求1至7之一所述的测量装置(1)的方法,该方法具有以下的步骤:
驱动发送装置(3)以低于可预给定功率阈值的功率来发送第一信号(15);
驱动调制装置(5)以调制该发送装置(3)的第一信号(15);
借助接收装置(7)来探测第二信号(17);以及
借助校正装置(11)基于该第二信号(17)来校正该测量装置(1),其方式是从该第二信号中确定系统测量误差,该系统测量误差在距离测量中被计算出来。
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