[发明专利]光学相干层析成像设备以及光学相干层析成像方法

权利要求书

1.一种光学相干层析成像设备，包括：

光源单元，包括多个扫频光源，每个扫频光源发射具有周期变化 的振荡波长的光；

干涉光学系统，将从光源单元发射的光分成基准光和用于照射分 析物的照射光，并且使得来自分析物的反射光与基准光相互干涉，从 而生成干涉光；

光检测单元，检测所述干涉光；以及

处理单元，基于通过所述光检测单元检测的所述干涉光的强度获 得所述分析物的层析图像，

其中，从所述光源单元发射的光包括从具有不同的中心波长和部 分重叠的输出光谱范围的扫频光源发射的光，所述光具有各自的输出 光谱范围并且在时间上相互分离，以及

其中，所述光学相干层析成像设备进一步包括：

分割单元，连接到所述光源单元，并且对所述光源单元发射的光 进行分割；

波长选择单元，连接到所述分割单元，并且从所述输出光谱范围 重叠的范围中选择具有预定波长的光；

时间检测单元，连接到波长选择单元，并且检测扫频光源以所述 预定波长振荡的时间；以及

波数检测单元，连接到所述分割单元，并且检测从扫频光源发射 的光具有相同波数的时间。

2.根据权利要求1所述的光学相干层析成像设备，其中，所述波 长选择单元是波长选择滤波器。

3.根据权利要求2所述的光学相干层析成像设备，其中，所述波 长选择滤波器是标准具滤波器

4.根据权利要求1所述的光学相干层析成像设备，其中，所述时 间检测单元包括连接到所述波长选择单元和所述处理单元的光学检测 器。

5.根据权利要求1所述的光学相干层析成像设备，其中，所述波 数检测单元包括干涉仪和所述处理单元。

6.根据权利要求5所述的光学相干层析成像设备，其中，所述干 涉仪是Michelson干涉仪、Fizeau干涉仪或者Mach-Zehnder干涉仪 中的一种。

7.根据权利要求6所述的光学相干层析成像设备，其中，所述干 涉仪是波数时钟干涉仪。

8.根据权利要求7所述的光学相干层析成像设备，其中，所述波 数时钟干涉仪包括脉冲发生器。

9.根据权利要求1所述的光学相干层析成像设备，其中，通过所 述波数检测单元检测的时间是从所述扫频光源发射的并且具有接近于 所述预定波长的波长的光具有相同波数的时间。

10.根据权利要求1所述的光学相干层析成像设备，其中，所述 光源单元包括组合从所述扫频光源发射的光的组合器。

11.根据权利要求1所述的光学相干层析成像设备，其中，所述 波数检测单元基于扫频光源以所述预定波长振荡的并且由所述时间检 测单元检测的时间检测对应于相同波数的时间，并且所述处理单元通 过在对应于所述相同波数的时间连接干涉信号来执行处理，所述干涉 信号是由所述光检测单元基于具有各自的输出光谱范围的光而获得 的。