[实用新型]一种在透射和反射测量间切换的测光装置有效

专利信息
申请号: 201320824595.3 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN203929610U 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 刘明;赵跃进;董立泉;刘小华;武红;卢铁林;张建成 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01J3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 透射 反射 测量 切换 测光 装置
【权利要求书】:

1.一种在透射和反射测量间切换的测光装置,包括光源、探测器、透射测量光路组件、反射测量光路组件和样品架组件,其特征在于:样品承载于样品架组件上,所述样品架组件可带动样品旋转;在所述测量装置采用透射测量方式时,所述透射测量光路组件放置于所述光源与所述探测器之间;在所述测量装置采用反射测量方式时,所述反射测量光路组件放置于所述光源与所述探测器之间。

2.根据权利要求1所述的在透射和反射测量间切换的测光装置,其特征在于,所述透射测量光路组件包括两个平面反射镜和两个离轴抛物面镜,其中,在所述测光装置采用透射测量方式时,第一平面反射镜置于所述光源发出的探测光线的光路中,第一离轴抛物面镜置于第一平面反射镜的反射光路中,所述样品架组件承载样品并置于第一离轴抛物面镜的反射光路中,且样品入射面与从第一离轴抛物面镜反射的探测光线垂直,第二离轴抛物面镜置于样品的透射光路中,第二平面反射镜置于所述第二离轴抛物面镜的反射光路中,最终将探测光线反射至所述探测器;所述反射测量光路组件包括两个离轴抛物面镜和四个平面反射镜;,在所述测光装置采用反射测量方式时,第三平面反射镜置于所述光源发出的探测光线的光路中,第三离轴抛物面镜置于第三平面反射镜的反射光路中,第四平面反射镜置于所述第三离轴抛物面镜的反射光路中,且所述第四平面反射镜反射的探测光线与样品入射面成θ角,所述第五平面反射镜置于样品入射面的反射光路中,所述第四离轴抛物面镜置于第五平面反射镜的反射光路中,所述第六平面反射镜置于第四离轴抛物面镜的反射光路中,并最终将探测光线反射至所述探测器;其中,所述角度θ与探测光线在样品入射面的反射率成反比。

3.根据权利要求1或2所述的在透射和反射测量间切换的测光装置,其特 征在于,所述样品架组件包括均呈方形片状的样品架底座和样品固定装置,所述样品固定装置在四边均开有安装孔,相对的两个安装孔的中心连线互相垂直;样品固定在所述样品固定装置的一侧表面,样品的入射面与该侧表面垂直;所述样品架底座上固定连接两个销钉,该两个销钉与所述样品固定装置上的任意两个相对的安装孔互相配合。

4.根据权利要求1或2所述的在透射和反射测量间切换的测光装置,其特征在于,所述样品架组件包括样品架底座和样品固定装置,所述样品架固定装置的一侧表面上加工有条形凸起,条形凸起上端固定所述样品,所述样品架底座上开有均与所述条形凸起配合的且互相垂直的两个条形孔。

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