[实用新型]一种检验A 型架中心点用测量尺有效

专利信息
申请号: 201320799452.1 申请日: 2013-12-06
公开(公告)号: CN203687811U 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 郭志刚;曾建海 申请(专利权)人: 彩虹(张家港)平板显示有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 215600 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 检验 中心点 测量
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种测量工具,具体涉及一种检验A型架中心点用测量尺。

背景技术

装载基板玻璃用的A型架技术要求比较高,其最主要的中心点尺寸一直无法检测,中心点指的是斜底座与斜靠板的交点到前端的坐标尺寸,该中心点尺寸的偏差直接就影响着玻璃基板包装过程中的机械手取放。

发明内容

为了解决现有技术中的问题,本实用新型提出一种能够准确测量出玻璃基板A型架中心点尺寸的检验A型架中心点用测量尺。

为了实现以上目的,本实用新型所采用的技术方案为:

一种检验A型架中心点用测量尺,包括竖向设置的基板,靠近基板上端开设有通孔,基板通孔中设置有带通槽的滑块、以及能够穿过滑块通槽的钢板尺,所述基板和钢板尺上均设有刻度,所述滑块能够在基板的通孔内上下滑动和翻转。

所述基板通孔的两侧侧壁上开设有滑槽,滑块通过滑动螺钉安装在滑槽内。

所述的基板形状为L形。

所述的滑块由U型槽和固定在U型槽上端盖板组成,钢板尺置于U型槽内。

所述的盖板通过螺钉固定在U型槽上端。

本实用新型通过基板紧靠被测物A型架,通过刻度测得被测物A型架高度,然后通过能够旋转并滑动的钢板尺伸入有斜度的被测物A型架中心底端,测得被测物A型架斜坡长度,被测物A型架斜坡角度一定,从而利用几何关系计算出,A型架中心点的位置,采用本实用新型装置能够准确测量出中心点的尺寸,从而使玻璃基板包装过程中机械手得取放精准,本实用新型结构简单,易于操作。

更进一步,本实用新型通过滑动螺钉穿过基板上的滑槽,使得滑块固定在基板上,并能够上下滑动方便,保证了滑块固定的牢靠性。

更进一步,本实用新型的基板为L形,便于倚靠A型架,更精准的测量,以及使整个装置不易倒伏。

更进一步,本实用新型的滑块由U型槽和固定在U型槽上端盖板组成,钢板尺置于U型槽内,方便滑块拆卸和组装,实用性更强。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为本实用新型的组装图;

图3为本实用新型的测量原理图;

其中,1为基板,2为滑块,3为盖板,4为滑动螺钉,5为钢板尺。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步说明。

参见图1和图2,本实用新型包括:包括竖向设置的设有刻度的基板1,基板1形状为L形,靠近基板1上端开设有通孔,基板1通孔中设置有带通槽的滑块2、以及能够穿过滑块2通槽的设有刻度的钢板尺5,基板1通孔的两侧侧壁上开设有滑槽,滑块2通过滑动螺钉4安装在滑槽内,使滑块2能够在基板1的通孔内上下滑动和翻转,滑块2由U型槽和固定在U型槽上端盖板3组成,盖板3通过螺钉固定在U型槽上端,钢板尺5置于U型槽内。

本实用新型的使用方法:将基板1与被测A型架前端靠齐,调整滑块2的高度及倾斜度,保证钢板尺5与被测A型架的斜面平行,将钢板尺5沿被测A型架的斜面向下伸出到零件底端。读出基板1上的高度刻度(倚靠基板的被测A型架侧边的高度B)及钢板尺5上的刻度(从A型架底端到基板的距离A),由于被测A型架的斜面角度是固定的,利用几何原理,这样就计算出该中心点尺寸X值和Y值,X=B-Asinθ,Y=Acosθ,从而确定中心点的位置,机械手依靠中心点定位,取放玻璃基板过程中精准可靠。

本实用新型利用几何关系计算出,A型架中心点的位置,采用本实用新型装置能够准确测量出中心点的尺寸,从而使玻璃基板包装过程中机械手得取放精准,本实用新型结构简单,易于操作。

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