[实用新型]对镜片进行反射测量的支架和装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于对镜片进行反射测量的支架和装置。特别地，该反射测量可以在可见的、UV A和UV B辐射的波长范围内。

此类测量对于对可见辐射进行镜片的减辐射效率量化可以是特别有用的。

它对于对镜片向佩戴者提供的防UV危害保护进行量化也可以是有用的。

背景技术

已知的光学分析技术（比如反射测量术和椭圆测量术）涉及到反射测量。同样，许多装置对于实现这些技术是可商购的。

但这些装置被设计成用于对带有多个平面反射面的样品进行反射测量。例如，被测样品是配备有薄膜（如用于微电子应用的）的硅片。例如考虑到制造建筑用或汽车用玻璃、或者是显示面板，它们还可以是具有涂层的平面玻璃样品。

然而，需要对镜片进行反射测量，特别是为了对配备有减反射涂层的镜片的剩余反射进行量化、以及为了对提供给镜片佩戴者的防UV辐射危害的保护效率进行量化。对于具有减反射涂层的镜片，这些测量处理可见辐射，即包括在380nm（纳米）和780nm之间的波长范围内的，且入射角值小于等于17°（度）。对于UV保护评级，这些测量对具有在280nm和380nm之间的波长值和比如30°、甚至45°的入射角的UV-A和UV-B辐射进行处理。

但是由于镜片面的弯曲形状或凹或凸，目前可获得的装置不允许对镜片进行反射测量。确实，这些装置不是被设计成用于将样品的一个面（此面是弯曲的）暴露于测量光束，并在这个面中的测量位置处对样品面的高度进行控制。另外，如果不特别注意被测面的曲率的光学后果，该样品面的曲率会造成测量结果的误差。

实用新型内容

从这个现有情况开始，本实用新型的一个目的是允许以一种简单高效且具有高测量精度的方式对镜片进行反射测量。

本实用新型的另一个目的是允许使用同一个装置对配备有在可见波长范围内有效的减反射涂层的镜片的剩余反射进行量化，而且还允许对向镜片佩戴者提供的UV保护进行评级。

本实用新型还有另一个目的是在不损坏该镜片或需要该镜片永久改变的前提下测量一个镜片上的反射。

为了达到这些目的中的至少一个或其他目的，本实用新型提出了一种新颖的支架，该支架适合用于对眼科镜片进行反射测量。该支架包括：

-上部部分，其本身包括上部基座元件和三个第一接触部分，这三个第一接触部分被刚性地安排在该上部基座元件的下端，以便与该镜片的第一面在对应的基准位置分别产生三个第一点接触，这些基准位置被相对于该上部部分固定地限定；

-下部部分，其本身包括下部基座元件和三个第二接触部分，这三个第二接触部分分别安装在该下部基座元件上，以便从这个下部基座元件的上端延伸直至超出该下部基座元件的该上端对应的可变距离，并能够提供三个第二点接触；以及

-保持装置，其用于保持该上部部分和下部部分，并且该上部部分和下部部分的相应下端和上端面朝彼此，同时将这些第二接触部分朝该上部部分按压，从而使得该镜片被固定在这些第一接触部分和这些第二接触部分之间，其中，这三个第二点接触位于该镜片的与该第一面相对的第二面中。

此外，该上部基座元件具有多个凹陷，这些凹陷被设置在这个上部基座元件的多个相对的侧面中，从而使得在这些凹陷之一中传播的光束可以在位于这三个第一点接触之间的测量位置处照射在该镜片的该第一面上，并且来自该镜片第一面中的该测量位置的光束的反射方向穿过这些凹陷的另一个并从这个另一个凹陷离开。

因此，使用本实用新型的支架，该镜片被夹在该上部部分和下部部分之间，从而使得可以简单、容易并快速获得镜片的固定。该上部部分的这些接触部分为该被测镜片面形成高度基准，该高度基准与此面的弯曲形状是相配的。同样，该支架的该下部部分的这些接触部分可以符合该镜片的另一个面的形状，不论这个另一个面是什么样的。因此，本实用新型的支架保证了该镜片的被反射测量的面正确地抵靠在该支架的该上部部分的这些接触部分上。被反射测量的该面的高度由此被精确地控制。

本实用新型的优选实施例可以分开地或结合其中的若干个进行以下改进：

-该下部部分和上部部分可以围绕一个轴线定向，该轴线从该上部基座元件的下端朝该下部基座元件的上端延伸，从而使得这三个第一点接触分别沿着多个与该轴线平行的方向与这三个第二点接触对齐。以此方式，为了固定该镜片而涉及的夹力可能造成的该镜片的任何变形都可以避免；