[实用新型]通气装置有效

专利信息
申请号: 201320779066.6 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN203644734U 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 廖海涛;孙文斌;郭卫卫 申请(专利权)人: 无锡邑文电子科技有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;韩凤
地址: 江苏省无锡市新区菱湖大道20*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 通气 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种通气装置,具体是一种半导体制造业中使气体分布均匀的装置。

背景技术

通气装置用于控制腔体气体均匀的分布。腔体内工作时,需要通过干泵来抽取气体进入腔体内进行反应,如果没有合适的通气装置,就会导致抽入的气体分布不均匀,有的地方没有气体,无法进行反应,那么生产出来的晶片的均匀度不好,会导致晶片不合格。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种通气装置。

按照本实用新型提供的技术方案,所述通气装置,其特征是:包括球壳和通气接头,所述球壳包括一个球面和一个平面,所述通气接头与平面相连,所述通气接头为一个圆管,与球壳内连通;所述球面上密布有通气孔。

进一步的,所述平面上具有与通气接头圆管内径相同的孔,并与圆管内壁对齐。

进一步的,所述通气接头的外壁上具有一圈或两圈密封槽。

进一步的,所述通气孔直径相同,为2~3毫米。

本实用新型的优点是:结构简洁,制造成本低,效果好,能够使通入的气体均匀,达到生产要求,并提高了生产效率。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图。

图2是图1的剖视图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

在半导体制造业中,生产晶片时,要通入气体进入腔体反应,而且要控制气体进入的均匀性,因此加入这样的装置来使被抽入的气体均匀化,以达到晶片的均匀度的要求。

如图1,2所示,本实用新型包括:球壳1和通气接头3,所述球壳1包括一个球面1-1和一个平面1-2,所述通气接头3与平面1-2相连,所述通气接头3为一个圆管,与球壳1内连通;所述球面1-1上密布有通气孔2。所述平面1-2上具有与通气接头3圆管内径相同的孔,并与圆管内壁对齐。所述通气孔2直径相同,为2~3毫米。

如图1所示,所述通气接头3的外壁上具有一圈或两圈密封槽4,供装配时安放密封圈。将本通气装置固定于腔体内,通过通气接头3连接抽气管,在干泵抽取气体时,通过密封槽4和密封圈防止气体外漏,再由通气孔2将气体均匀的被抽入腔体内进行反应,以完成对晶片的生产。

由于通气孔2的均匀分布,以至腔体的气体能够分布均匀进行反应,达到对晶片生产的均匀度的要求,从而生产出合格的晶片。

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