[实用新型]一种测试电容的老化装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及一种测试电容的老化装置。

【背景技术】

由于传统的电容器老化设备为带电阻的高压排板，该电容的老化方式缺点是老化一致性差。其会容易造成漏电不稳定、漏电不均匀、漏电回升。而且带电阻的高压排板电阻容易脱落或电阻烧坏，更换麻烦，影响生产效率。

再有传统的电容器老化设备的各个电容串联起来，再共用一个电阻，这样当其中一个电容损坏之后，其它的电容也测试不了，测试效果不好。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是克服现有技术的不足而提供一种结构简单，使用方便，效果好的测试电容的老化装置。

针对上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种测试电容的老化装置，其特征在于包括支架1，在支架1上依次设有多个层架2，在各个层架上各自设置有多个测试电容组件3，在各个测试电容组件3上连接高压电源，在支架1的底部设有电阻组件4，各个测试电容组件3相应电连接至电阻组件4中的各个电阻上。

如上所述的一种测试电容的老化装置，其特征在于所述每个层架2上设置的测试电容组件3的个数为3-7个。

如上所述的一种测试电容的老化装置，其特征在于所述层架2的个数为5-10个。

如上所述的一种测试电容的老化装置，其特征在于所述测试电容组件3包括有承座31，在承座31上依次设有多个可让测试电容插入的插孔，各个正、负极的插孔依次并联起来再与电阻组件4中的其中一个电阻连接。

本实用新型的有益效果有:

本实用新型在各个层架上各自设置有多个测试电容组件，在各个测试电容组件上连接高压电源，在支架的底部设有电阻组件，各个测试电容组件相应电连接至电阻组件中的各个电阻上。使得本实用新型具有改善产品充电质量，提高产品合格率等优点。

【附图说明】

图1为本实用新型的示意图。

【具体实施方式】

下面结合附图与实施例对本实用新型作详细说明：

如图所示，一种测试电容的老化装置，包括有支架1，在支架1上依次设有多个层架2。在各个层架上各自设置有多个测试电容组件3，每个测试电容组件3都排列有多个测试电容。在各个测试电容组件3上连接高压电源并进行电容老化。在所述支架1的底部设有电阻组件4，电阻组件4由并排的多个电阻组成。各个测试电容组件3相应电连接至电阻组件4中的各个电阻上。

作为本实施例的优选方式，所述每个层架2上设置的测试电容组件3的个数为3-7个。所述层架2的个数为5-10个。

作为本实施例的优选方式，所述测试电容组件3包括有承座31，在承座31上依次设有多个可让测试电容插入的插孔，各个正、负极的插孔依次并联起来再与电阻组件4中的其中一个电阻连接。这样就算某个测试电容器损坏，也不会影响其它电容器的老化测试。