[实用新型]一种测试电容的老化装置

权利要求书

1.一种测试电容的老化装置，其特征在于包括支架（1），在支架（1）上依次设有多个层架（2），在各个层架上各自设置有多个测试电容组件（3），在各个测试电容组件（3）上连接高压电源，在支架（1）的底部设有电阻组件（4），各个测试电容组件（3）相应电连接至电阻组件（4）中的各个电阻上。

2.根据权利要求1所述的一种测试电容的老化装置，其特征在于所述每个层架（2）上设置的测试电容组件（3）的个数为3-7个。

3.根据权利要求1或2所述的一种测试电容的老化装置，其特征在于所述层架（2）的个数为5-10个。

4.根据权利要求1或2所述的一种测试电容的老化装置，其特征在于所述测试电容组件（3）包括有承座（31），在承座（31）上依次设有多个可让测试电容插入的插孔，各个正、负极的插孔依次并联起来再与电阻组件（4）中的其中一个电阻连接。