[实用新型]一种磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件及其体模

说明书

技术领域

本实用新型涉及核磁共振质量保证和质量控制领域，特别是涉及一种磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件及具有该定位构件的体模。

背景技术

    近年来随着工程技术和计算机技术的迅速发展,磁共振成像(MRI)技术的水平和功能得到不断地改进和完善,为临床医学水平的提高和科研的深入发展提供了有利的条件。磁共振成像技术已经成为临床诊断不可缺少的测试方法之一。因此,要保证磁共振成像系统能够正常高效地运行,需要确保磁共振测试装置的质量。

为保证核磁共振设备检测时能达到要求的精度，不仅要求在出厂前进行参数测试，而且在使用过程中，还必须依据国家标准，由相关检测机构对设备进行定期检查。

    现有测试体模存在以下不足：一是部分体模功能单一，每次只能测量少量性能参数，综合测试时需要多个体模才能完成；二是体模不易拆卸、组装困难，在体模拆卸过程中易产生零部件的损坏，体模内易出现气泡等。

因此，针对现有磁共振测试体模的不足，提供一种能同时测试多种参数、拆卸组装方便、测试层可灵活组合的磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件及具有该定位构件的体模以克服现有技术不足甚为必要。

发明内容

本实用新型的目的之一在于避免现有技术的不足之处而提供一种磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件,通过该定位构件，磁共振质量控制多参数测试体模不仅能同时测试多种参数、而且测试层可灵活组合,并可以通过套管的选择调节测试层之间的间距，还可以灵活更换测试层，具有拆卸、组装方便的特点。

本实用新型的上述目的通过以下技术措施实现。

一种磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件，设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的多个套管,所述套管套设于所述圆棒；

磁共振质量控制多参数测试体模的每个测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离磁共振质量控制多参数测试体模的上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。

优选的，上述圆棒设置为一至四个，所述套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍，每个圆棒配置的套管数量相等。

优选的，上述套管的数量为所述圆棒数量的5倍。

进一步的，上述圆棒设置为两个。

本实用新型的另一目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种磁共振质量控制多参数测试体模,不仅能同时测试多种参数、而且测试层可灵活组合,并可以通过套管的选择调节测试层之间的间距，还可以灵活更换测试层，具有拆卸组装方便的特点。

本实用新型的上述目的通过以下技术措施实现。

提供一种磁共振质量控制多参数测试体模,设置有多个测试层和定位构件；

所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的多个套管,所述套管对应套设于所述圆棒；

所述圆棒设置为一至四个，所述套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍，每个圆棒配置的套管数量相等；

每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离磁共振质量控制多参数测试体模的上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。

上述上密封盖设置有与所述圆棒匹配的上装配件，所述下密封盖设置有与所述圆棒匹配的下装配件，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上装配件和所述下装配件。

优选的，上述套管的数量为所述圆棒数量的5倍。

进一步的，上述圆棒设置为两个。

本实用新型的磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件及其体模，定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的多个套管,所述套管套设于所述圆棒；磁共振质量控制多参数测试体模的每个测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离磁共振质量控制多参数测试体模的上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。通过该定位构件,能将多个测试层灵活装配于磁共振质量控制多参数测试体模,不仅能同时测试多种参数、而且测试层可灵活组合,还可以通过套管的选择调节测试层之间的间距，并可以灵活更换测试层,还具有拆卸装配方便的特点。

附图说明