[实用新型]一种磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件及其体模有效

专利信息
申请号: 201320470439.1 申请日: 2013-08-03
公开(公告)号: CN203365664U 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 康立丽;张丽媛;贺杰禹 申请(专利权)人: 康立丽
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 510515 广东省广州市广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁共振 质量 控制 参数 测试 体模用 定位 构件 及其
【权利要求书】:

1.一种磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件,其特征在于:设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的多个套管,所述套管套设于所述圆棒;

磁共振质量控制多参数测试体模的每个测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔,所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒,相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开,最外两测试层分别距离磁共振质量控制多参数测试体模的上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管,所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。

2.根据权利要求1所述的磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件,其特征在于:所述圆棒设置为一至四个,所述套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍,每个圆棒配置的套管数量相等。

3.根据权利要求2所述的磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件,其特征在于:所述套管的数量为所述圆棒数量的5倍。

4.根据权利要求3所述的磁共振质量控制多参数测试体模用定位构件,其特征在于:所述圆棒设置为两个。

5.一种磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于:设置有多个测试层和定位构件;

所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的多个套管,所述套管对应套设于所述圆棒;所述圆棒设置为一至四个,所述套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍,每个圆棒配置的套管数量相等;

每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔,所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒,相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开,最外两测试层分别距离磁共振质量控制多参数测试体模的上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管,所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。

6.根据权利要求5所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于:所述上密封盖设置有与所述圆棒匹配的上装配件,所述下密封盖设置有与所述圆棒匹配的下装配件,所述圆棒的两端分别固定装配于所述上装配件和所述下装配件。

7.根据权利要求5所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于:所述套管的数量为所述圆棒数量的5倍。

8.根据权利要求7所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于:所述圆棒设置为两个。

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