[实用新型]一种具有解决光线反射的检测光源结构有效

专利信息
申请号: 201320189108.0 申请日: 2013-04-16
公开(公告)号: CN203178180U 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 吴俊男 申请(专利权)人: 昆山全盈自动化设备有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/88
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215341 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 解决 光线 反射 检测 光源 结构
【说明书】:

技术领域

实用新型系有关于一种检测结构,特别系有关于一种具有解决光线反射的检测结构。

背景技术

利用光源搭配光学摄影装置来达到光学检测的技术系现有该技术领域的技艺人员所熟知的技术,而各式各样的检测品,使得所对应使用的光源也层出不穷,推陈出新,而且为使检测的品质提升,往往皆会注重于影像的品质,而影像的品质上的掌控,却也是目前该领域的技艺人员所重视的一项工程;

在视觉检测上,光线反射形成杂讯,造成检测误判的问题往往是影响影像品质的其中一项重要的因素,且鉴于以往的做法,系以遮蔽的方式来解决光线反射的问题,然而该解决方式时常会因检测品的不同而需经常性的调整,实有不便之处,因此,本实用新型系为解决前述的问题所衍生的技术。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种检测结构,以达到使检测结构具有解决光线反射功能的目的。

为了达到这个目的,本实用新型系提供一种具有解决光线反射的检测光源结构,其包含:一检测模组,其系具有一检测元件,且该检测元件至少设有一槽孔,而该槽孔系提供一待测物置入;一光源模组,其系具有一发光元件、一扩散元件及一容置元件,且该发光元件系设置于该扩散元件与该容置元件之间;一反射模组,其系具有一反射元件及一框体,且该反射元件系嵌设于该框体之中;以及一取像元件,其系与该待测物及该反射元件的中心呈同轴线的设置。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚理解本实用新型的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本实用新型所述目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。

附图说明

图1是本实用新型的一种具有解决光线反射的检测光源结构的结构立体图。

图2是本实用新型的一种具有解决光线反射的检测光源结构的另一立体视图。

图3是本实用新型的一种具有解决光线反射的检测光源结构的光源模组立体视图。

图4是本实用新型的一种具有解决光线反射的检测光源结构的实施示意图。

附图的标记含义如下:

10:检测模组;11:检测元件; 11a:槽孔;20:光源模组;21:发光元件;22:扩散元件;23:容置元件;231:第一侧面;232:第二侧面;233:第三侧面;30:反射模组;31:反射元件;32:框体;40:取像元件;50:固定元件;51:装设平台;60:待测物;61:检测面;61a:第一夹角;61b:第二夹角。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的描述。

请参阅图1、图2及图3,其系本实用新型的一较佳实施例,一种具有解决光线反射的检测光源结构系包含有一检测模组10、一光源模组20、一反射模组30、一取像元件40及一待测物60,其中该检测模组10系包含有一检测元件11,而该检测元件11系另包含有一槽孔11a,该槽孔11a系提供容置空间予该待测物60置放,其中该光源模组20系包含有一发光元件21、一扩散元件22及一容置元件23,其中该容置元件23系另包含有一第一侧面231、一第二侧面232及一第三侧面233,且该第三侧面233系垂直连结该第一侧面231与该第二侧面232之间形成ㄇ字型,致使该发光元件21及该扩散元件22系呈平行于该第三侧面233并垂直该第一侧面231与第二侧面232的设置于该容置元件23之中,其中该发光元件21系为LED灯,而该扩散元件22系为压克力板,当该发光元件21于该容置元件22之内产生光源时,可透过该扩散元件22将光源利用压克力的特性,使其扩散。另外,在本实施例之中,该反射模组30系包含一反射元件31及一框体32,其中该反射元件31系为反射镜,其以嵌入的方式设置于该框体32之内,而该框体32系为塑胶材质,其主要具有降低反射元件31因外力而导致破裂的功效。在本实施例中,该光源模组20与该反射模组30系设于一固定元件50,而该固定元件50系装设于该检测元件11的下方,且该固定元件50另设有一装设平台51,该光源模组20与该反射模组30系装设于该装设平台51之上。在本实施例中,该取像元件40系为电荷藕合元件,主要系对该待测物60进行取像,当该待测物60被置入该检测元件11的槽孔11a时,该光源模组20系透过该反射模组30的反射,使其照射光线间接照射于该待测物60之上,再由该取像元件40进行对该待测物60取像,进而针对取像内容检测其瑕疵,其中该取像元件40与该待测物60及该反射元件31的中心呈同轴线的设置。

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