[实用新型]一种粉尘比电阻的测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及除尘技术领域，特别是涉及一种粉尘比电阻的测量装置。

背景技术

比电阻即电阻率，粉尘的比电阻为衡量粉尘导电、放电性能的指标，受温度和粉尘成分影响。在除尘技术领域，粉尘的比电阻是设计除尘器的重要参数，设计除尘器前，需要测量应用除尘器的粉尘的比电阻。

除尘器工作过程中，待处理的粉尘通常具有一定的温度，粉尘经过除尘器的过程中，温度会发生变化，其比电阻也会发生一定程度的改变。为了更好的设计除尘器，通常需要检测粉尘在不同温度下的比电阻，根据粉尘的比电阻随温度的变化情况来确定设计除尘器的一些参数。

一种典型的粉尘比电阻测定仪，将粉尘样品装入两个电极形成的封闭空间，通过两个电极对粉尘样品施加电压，通过电流表和电压表检测粉尘样品的电压和电流，可以计算出粉尘样品的电阻，进而可以换算出粉尘样品的比电阻。但是，此粉尘比电阻测定仪只能测量室温情况下粉尘的比电阻，不能测量粉尘在不同温度下的比电阻，进而不能获得粉尘比电阻随温度的变化情况。

有鉴于此，亟待针对上述技术问题，设计一种用于检测粉尘比电阻的测量装置，该测量装置能够获得不同温度下粉尘的比电阻。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种粉尘比电阻的测量装置，该测量装置能够获得不同温度下粉尘的比电阻。

为了实现上述技术目的，本实用新型提供了一种粉尘比电阻的测量装置，包括盛装粉尘的料筒，还包括烘箱和万用表；所述料筒位于所述烘箱内，所述料筒两端封闭，其侧壁为绝缘体；所述料筒两端的内侧与所述万用表连通，以便测得所述料筒内粉尘的电阻。

优选地，所述料筒包括两个封头和绝缘的空心筒，两个所述封头安装在所述空心筒的两端。

优选地，所述封头为导体，所述封头的侧壁具有螺纹孔，与所述螺纹孔配合的螺栓抵顶所述空心筒，所述螺栓通过导线与所述万用表相连。

优选地，所述封头的侧壁的周向均匀分布多个所述螺栓。

优选地，所述封头为绝缘体，所述封头具有测量孔，且其内侧具有接线端子，导线一端连接所述接线端子，另一端穿过所述测量孔连接所述万用表。

优选地，所述封头为绝缘体，其端部具有螺纹通孔，与所述螺纹通孔配合的螺栓通过导线与所述万用表相连。

优选地，所述料筒包括一端封闭的空心筒和一个封头，所述封头安装在所述空心筒的未封闭端。

优选地，所述空心筒为绝缘体，其封闭端具有螺纹通孔，与所述螺纹通孔配合的螺栓通过导线与所述万用表相连。

优选地，所述空心筒为石英玻璃空心筒。

本实用新型提供的粉尘比电阻的测量装置，包括盛装粉尘的料筒，还包括烘箱和万用表；料筒位于烘箱内，料筒两端封闭，其侧壁为绝缘体；料筒两端的内侧与万用表连通，以便测得料筒内粉尘的电阻。

测量时，将粉尘样品装入料筒，连通料筒两端的内侧与万用表，万用表的欧姆档能够测得料筒内粉尘样品的电阻值；将料筒放入烘箱中，设定烘箱的温度，测得设定温度下粉尘样品的电阻值，根据电阻值可以换算出粉尘样品的比电阻。测量过程中，调整烘箱的温度，能够获得不同温度下粉尘样品的比电阻，得到粉尘样品随温度变化的情况，能够为除尘器的设计提供重要的参数。

具体的，料筒可以包括空心筒和两个封头，两个封头安装在空心筒的两端；料筒也可以包括一端封闭的空心筒和一个封头，封头安装在空心筒的未封闭端。

封头可以套装在空心筒上，封头包括具有螺纹孔的侧壁，与螺纹孔配合的螺栓抵顶空心筒。封头可以为导体，也可以为绝缘体。

封头为导体时，则封头上的螺栓通过导线与万用表相连，即可测得料筒内粉尘样品的电阻值，进而可以换算出粉尘的比电阻。

封头为绝缘体时，一种方式是，封头具有测量孔，且其内侧具有接线端子，导线通过测量孔连接接线端子和万用表；另一种方式是，封头端部具有螺纹通孔，与螺纹通孔配合的螺栓通过导线与万用表相连，上述两种方式也可以测得料筒内粉尘样品的电阻值。

附图说明

图1为本实用新型提供的粉尘比电阻的测量装置一种具体实施方式的结构示意图；

图2为图1中所示的测量装置的料筒的一种具体实施方式的结构示意图；

图3为图2所示的料筒的空心筒的一种具体实施方式的结构示意图；

图4为图2所示的料筒的封头的一种具体实施方式的结构示意图。

其中，图1至图4中的附图标记如下：

料筒1；空心筒11；封头12；螺栓13；螺纹孔14；烘箱2；导线3；万用表4。

具体实施方式