[实用新型]超高频传感器损耗测量的试验回路有效
| 申请号： | 201320145121.6 | 申请日： | 2013-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN203164367U | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 肖嵘;贺林;高凯 | 申请（专利权）人： | 国家电网公司;上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/14 | 分类号： | G01R31/14 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 100031 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 超高频 传感器 损耗 测量 试验 回路 | ||
【权利要求书】：
1.一种超高频传感器损耗测量的试验回路，其特征在于，包括频谱分析仪、GIS设备、连接头、耦合器，所述的频谱分析仪设有RF输出端和RF输入端，所述的RF输出端通过连接头与GIS设备的信号输入端连接，所述的耦合器设在GIS设备的信号输出端，GIS设备的信号输出端通过所述耦合器连接RF输入端。
2.根据权利要求1所述的一种超高频传感器损耗测量的试验回路，其特征在于，所述的GIS设备内部设有用于进行末端阻抗匹配的调节电阻。
3.根据权利要求2所述的一种超高频传感器损耗测量的试验回路，其特征在于，所述的调节电阻包括多个并联的等值电阻。
4.根据权利要求1所述的一种超高频传感器损耗测量的试验回路，其特征在于，所述的连接头的一端为铜质金属头，GIS设备的信号输入端上覆盖有铜片，所述的铜质金属头焊接于所述铜片上。
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