[发明专利]隔垫物检测装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及隔垫物检测装置及方法。

背景技术

随着科技的发展，液晶显示已经频繁应用于各种设备中。目前，液晶显示器是常用的平板显示器，其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)是液晶显示器中的主流产品。TFT-LCD通常包括对盒设置的阵列基板和彩膜基板，在阵列基板和彩膜基板之间填充有液晶层。其中，在阵列基板和彩膜基板之间设置有隔垫物，隔垫物对阵列基板和彩膜基板起到支撑盒厚的作用。

隔垫物是液晶显示器的重要部件，隔垫物的高度决定了对盒后的阵列基板和彩膜基板需注入液晶的用量。隔垫物主要分为球形隔垫物及柱状隔垫物，其中，柱状隔垫物因为能很好地控制分布密度，从而能有效地保证液晶盒厚的均一性，成为现有普遍采用的方法。

现有技术中一般采用CCD图像矩形面阵传感器直接检测隔垫物，测量速度比较慢，对装置震动要求比较高，微小的异常都会引起测量不够准确，造成液晶盒厚的异常，对于液晶旋光性及液晶屏的显示效果都会有很大影响，并且会产生很多不良，如低温起泡（Bubble）等，影响了液晶显示器的质量；需要采用大理石基座、下部防震台等，对设备的安装的要求比较高；只能进行表面的检测，无法检测内部的损伤。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：提供简易的隔垫物检测装置及方法，对隔垫物进行准确的检测。

（二）技术方案

为解决上述问题，根据本发明的第一方面，提供了一种隔垫物检测装置，包括：X射线成像单元和图像处理单元，其中X射线成像单元包括X射线源和X射线敏感镜头；

X射线源，用于产生透过带有隔垫物的基板的X射线；

X射线敏感镜头，接收透过基板的X射线并形成灰度图像；

图像处理单元，利用灰度图像测量隔垫物的高度。

优选地，X射线源和X射线敏感镜头关于基板位置相对，X射线源为X射线阵列源，X射线敏感镜头为X射线敏感平板探测器。

优选地，X射线敏感镜头与基板之间设置有光阑。

优选地，所述X射线成像单元为两个，关于基板位置相对，其中任一个的X射线成像单元的X射线敏感镜头接收另一个X射线成像单元的X射线源透过基板的X射线，形成灰度图像。

优选地，所述两个X射线成像单元可以在圆弧轨道上移动，使得X射线入射基板的角度改变。

根据本发明的第二方面，提供了一种隔垫物检测方法，包括：

产生透过带有隔垫物的基板的X射线，接收透过基板的X射线并形成灰度图像；

利用灰度图像测量隔垫物的高度。

优选地，所述形成灰度图像包括：

将同一区域的反面灰度图像和正面灰度图像进行反转复合，得到用于测量隔垫物的高度的灰度图像。

优选地，该方法还包括：

若灰色图像某个区域的灰度值超过设定的阈值，则改变X射线的发射角度，再次对所述基板的对应区域进行检测。

优选地，所述利用灰度图像测量隔垫物的高度包括：

根据设定的对应关系将灰度图像像素的灰度值换算为隔垫物的高度值。

优选地，所述利用灰度图像测量隔垫物的高度包括：

灰度图像包括同一区域的不同深度的若干剖析图像，从中找到隔垫物的顶和底所在的剖析图像，两者之间的深度之差即为隔垫物的高度。

优选地，该方法还包括：

利用同一区域的不同深度的若干剖析图像进行组合形成隔垫物的立体图像

（三）有益效果

本发明采用X射线成像原理对彩膜基板上的隔垫物进行检测，利用X射线荧光转换装置产生可见光，并生成灰度图像，对灰度图像进行识别处理，，能准确测量隔垫物的高度，并且可以检测隔垫物的内部及连接状态。X射线扫描时可以去除由Rubbing（摩擦）工序带来的静电，从而不需要单独的去除静电工序，提高了生产效率；而且可以附带检查基板内部由Rubbing工序带来的微裂痕。本发明既可以检测柱状隔垫物，也可以检测球状隔垫物。X射线检测设备相对简单而且检测条件要求低，速度快。

附图说明

图1为根据本发明实施例一的隔垫物检测装置的组成示意图；

图2为根据本发明实施例二的隔垫物检测装置的组成示意图；

图3为根据本发明实施例二的隔垫物检测装置的X射线成像单元的光学结构示意图；