[发明专利]一种低阻抗宽带测试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及射频微波测量技术领域，特别涉及一种低阻抗宽带测试夹具。

背景技术

应用Loadpull系统测试功放管时，测试夹具针的阻抗为50Ω，没有设计阻抗变换功能。采用50Ω的测试夹具测试阻抗很小的大栅宽、高功率的LDMOS器件时，由于阻抗严重失配，导致低频振荡，器件很容易烧毁。用于封装级测试的夹具，有一定的阻抗变换，可以从50欧姆变换到十几欧姆，变换后的阻抗仍然相对较高，容易低频振荡，烧毁器件。此外，用偏置电路供电，夹具受偏置电路滤波电容的影响，工作带宽很窄。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种阻抗变换范围大的测试夹具，避免低频振荡。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种低阻抗宽带测试夹具，用于LDMOS器件的测量操作；包括：阻抗变换器和支撑件；所述阻抗变换器固定在所述支撑件上；所述阻抗变换器包括：第一渐变微带线、第一偏置电路、第二渐变微带线以及第二偏置电路；所述第一渐变微带线、所述第一偏置电路、所述第二渐变微带线以及所述第二偏置电路印刷在PCB板上；所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线夹住待测LDMOS器件；所述第一偏置电路与所述第一渐变微带线相连；所述第二偏置电路与所述第二渐变微带线相连。

进一步地，所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均为100节。

进一步地，所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线的长度均大于210mm。

进一步地，所述第一偏置电路和所述第二偏置电路还包括：扇形电容；所述第一偏置电路与所述第一渐变微带线结点两侧分别设置一个扇形电容；所述第二偏置电路与所述第二渐变微带线结点两侧分别设置一个扇形电容。

进一步地，所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均为Klopfenstein渐变微带线。

进一步地，所述支撑件包括：底板和载板；所述PCB板固定在所述底板上；所述底板通过所述载板支撑。

进一步地，所述载板包括：支撑板和底座；所述支撑板固定在所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线中间，用于承载待测的LDMOS器件；所述支撑板通过底座固定。

进一步地，所述支撑板和底座为金属材质的一体成型结构。

进一步地，所述支撑板和底座为铜质。

本发明提供的低阻抗宽带测试夹具通过两条渐变微带线形成的阻抗变换器扩大测试夹具的阻抗变换范围，从而能够将阻抗降到很低的层次，降低夹具与待测试LDMOS器件的阻抗失配程度，减小低频震荡，降低烧管风险。

附图说明

图1为本发明实施例提供的阻抗变换器的PCB板电路。

具体实施方式

参见图1，本发明实施例提供的一种低阻抗宽带测试夹具，包括：阻抗变换器和支撑件；阻抗变换器固定在所述支撑件上，用于实现夹具阻抗变换，以配合待测试的各类LDMOS器件，降低阻抗失配的程度；阻抗变换器包括：第一渐变微带线1、第一偏置电路2、第二渐变微带线3以及第二偏置电路4；第一渐变微带线1、第一偏置电路2、第二渐变微带线3以及第二偏置电路4作为高频电路，印刷在PCB板7上；第一渐变微带线1和第二渐变微带线3夹住待测LDMOS器件；第一偏置电路2与第一渐变微带线1相连；第二偏置电路4与第二渐变微带线3相连。PCB板7通过板面上设置的固定孔6固定在支撑件上，形成稳固结构，方便测试操作。

本实施例提供的渐变微带线构成的阻抗变换器，在排除材料影响的前提下阻抗变化范围为50Ω～5.4Ω；因此，相应的，第一渐变微带线1和第二渐变微带线3均为100节，从而保证阻抗变换的下限。阻抗下限越低，其与待测LDMOS器件的配合程度就越高，低频振荡就越缓和，烧管的风险就越小。

为了改善供电电路滤波电容造成的工作带宽窄的问题，优选的，第一渐变微带线1和第二渐变微带线3的长度均大于210mm，从而使频率覆盖范围包括：P波段、L波段以及S波段；大的带宽可以清楚的看到振荡区域，解决低频振荡的问题，降低了烧管的风险。

阻抗转换器通过偏置电路连接外置电路，滤波电容选用扇形电容5，能够通过较少的人工调试，就能获得较好的指标，同时其可重复效果很好。针对测量的不同频率，波长也不同；第一偏置电路2的扇形电容5的位置设置在第一偏置电路2与第一渐进微带线1的结点两侧四分之一波长处；第二偏置电路4的扇形电容5的位置设置在第二偏置电路4与第二渐进微带线3的结点两侧四分之一波长处；从而获得最好的滤波效果，进一步削弱低频振荡，降低烧管风险。