[发明专利]一种CMOS图像芯片测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及CMOS芯片测试行业，特别涉及一种新型CMOS图像芯片测试方法。

背景技术

现有测试方法主要分为白光和全暗态两种环境测试：在白光的测试环境下，上位机获得图像数据后，可以对图像中的黑色点类/线类不良进行抓取，并实现不良产品的判定；在全暗态下，图像中的彩/亮点也会被抓取到，产品也会被视为不良产品。但是在实际测试过程中，会存在一些较淡的点和线，在图像的亮度变化过程中与周围的正常图像呈现较大的灰度值差异，对这种较淡的点和线，在白光和全暗态下软件和人眼均难以识别，而在现有的测试方法下，上位机软件通常是在图像的全白和全暗状态下开始分析图像，导致存在较淡的点和线的不良产品无法被有效抓取。

发明内容

针对上述现有技术中存在的问题，本发明的目的在于改良现有CMOS图像传感器的测试方法，有效地抓取不良产品。

为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案如下：

一种CMOS图像芯片测试方法，包括如下步骤：

步骤1：提供一种CMOS图像芯片测试系统，包括：上位机，测试板，光源，CMOS图像芯片；

步骤2：上位机设定调光命令值，向测试板发送调光命令；

步骤3：测试板通过D/A电路控制光源亮度；

步骤4：在光源亮度开始变化时，上位机控制CMOS图像芯片输出图像到测试板；

步骤5：上位机重设调光命令值，重复上述步骤2-4；

步骤6：测试板将采集到的图像数据输出到上位机，上位机收到图像数据后进行图像处理；

步骤7：上位机根据图像处理结果判定CMOS图像芯片是否存在点/线不良。

优选地，在上述CMOS图像芯片测试方法中，所述上位机的测试程序中设有一组调光命令值，所述调光命令值呈阶梯变化，通过测试板和D/A电路实现对光源亮度的阶梯变化控制。

优选地，在上述CMOS图像芯片测试方法中，所述CMOS图像芯片由测试板提供电源并在与测试板通讯后，将图像数据通过并口或者MIPI接口传送至测试板。

优选地，在上述CMOS图像芯片测试方法中，所述测试板为USB测试板，通过上位机的测试程序驱动，获取图像数据并对图像数据进一步进行图像分析。

优选地，在上述CMOS图像芯片测试方法中，在所述步骤6中，USB测试板将CMOS图像芯片产生的图像数据打包，按照USB协议传送至上位机。

使用本发明提供的CMOS图像传感器测试方法，通过对光源亮度变化进行程序控制，实现程序测试和画面亮度变化同步进行，对图像亮度变化时存在较淡的点和线的不良产品也能完全实现程序抓取，摆脱人工的眼睛识别，也规避了由于人眼识别带来的判定结果差异。

附图说明

图1为一种CMOS图像芯片测试方法的示例性示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合实施例及附图，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在芯片测试过程中，芯片通过自身的硬件算法，可以自动矫正自身的输出图像中的点/线的不良，矫正的结果是图像中的点/线变的很淡。矫正通过在芯片输出几帧图像过程中逐渐完成，且在芯片矫正过程的几张图像中，点/线的不良相对矫正完成时的特征更加明显(点/线更加清楚)。原有测试方法中，上位机程序等待芯片自身矫正完成后才开始测试，此时，图像中的点/线不良已经很淡，上位机程序分析出其中很淡的点/线不良很困难，只有靠人眼去辨别。

本发明所提供的CMOS图像芯片测试方法，上位机知道光源强度将何时变化，同时知道芯片何时开始自动矫正，在光源强度开始变化的瞬间，立即采集和分析图像，同时芯片本身的硬件根据光源变化开始做对点/线的矫正动作，在芯片自身矫正完成前，芯片输出图像中的点/线比较明显的图像也被上位机抓取和分析，上位机能够很容易地根据图像辨别出图像中所有的点/线不良问题。

图1所示为一种CMOS图像芯片测试方法，包括步骤：（1）上位机向测试板发送调光命令“1”；（2）USB测试板通过D/A电路实现光源亮度“2”；（3）CMOS图像芯片输出图像到USB测试板“3”；（4）上位机收到图像数据后开始图像处理“4”；（5）重复步骤(1)～(4），在步骤（1）中调光命令值阶梯变化；（6）单颗芯片测试结束。

在一更具体的实施例中，CMOS图像芯片的测试方法包括如下步骤：