[发明专利]一种CMOS图像芯片测试方法

权利要求书

1.一种CMOS图像芯片测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：提供一种CMOS图像芯片测试系统，包括：上位机，测试板，光源，CMOS图像芯片；

步骤2：上位机设定调光命令值，向测试板发送调光命令；

步骤3：测试板通过D/A电路控制光源亮度；

步骤4：在光源亮度开始变化时，上位机控制CMOS图像芯片输出图像到测试板；

步骤5：上位机重设调光命令值，重复上述步骤2-4；

步骤6：测试板将采集到的图像数据输出到上位机，上位机收到图像数据后进行图像处理；

步骤7：上位机根据图像处理结果判定CMOS图像芯片是否存在点/线不良。

2.根据权利要求1所述的CMOS图像芯片测试方法，其特征在于，所述上位机的测试程序中设有一组调光命令值，所述调光命令值呈阶梯变化，通过测试板和D/A电路实现对光源亮度的阶梯变化控制。

3.根据权利要求2所述的CMOS图像芯片测试方法，其特征在于，所述CMOS图像芯片由测试板提供电源并在与测试板通讯后，将图像数据通过并口或者MIPI接口传送至测试板。

4.根据权利要求3所述的CMOS图像芯片测试方法，其特征在于，所述测试板为USB测试板，通过上位机的测试程序驱动，获取图像数据并对图像数据进一步进行图像分析。

5.根据权利要求4所述的CMOS图像芯片测试方法，其特征在于，在所述步骤6中，USB测试板将CMOS图像芯片产生的图像数据打包，按照USB协议传送至上位机。