[发明专利]电容器温度特性自动测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201310552445.6 申请日: 2013-11-07
公开(公告)号: CN103630772A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 肖谧;尹昭杨;辛睿山 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李素兰
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 电容器 温度 特性 自动 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种电容器温度特性自动测试系统,其特征在于,该系统包括上位机、单片机、电容切换模块、高低温箱、温度传感器、安捷伦电容电桥以及被测电容器组,其中:

所述被测电容器组置于高低温箱中;所述温度传感器用于检测当前实时温度,并将温度信号转换为电信号,上传给上位机;所述上位机根据温度信号控制所述单片机;所述单片机控制电容切换模块的继电器组作为电容通路的选择开关,实现所述安捷伦电容电桥被测电容器组的对应通、断连接,自动切换安捷伦电容电桥与被测电容的连接,分别实现当前温度下各被测电容器组的电容性能参数测试;所述安捷伦电容电桥通过单片机不断地将测试结果上传到上位机;所述上位机实现测量数据的自动采集。

2.如权利要求1所述的电容器温度特性自动测试系统,其特征在于,所述单片机采用51系列,使用P0,P1和P2端口的一共20个管脚来控制继电器的通断。

3.如权利要求1所述的电容器温度特性自动测试系统,其特征在于,所述单片机通过RS-232串口接受上位机的指令。

4.如权利要求1所述的电容器温度特性自动测试系统,其特征在于,所述温度设置为从-55℃匀速升温至155℃。

5.如权利要求1所述的电容器温度特性自动测试系统,其特征在于,该系统还包括LED阵列,与被测电容器连接,用于指示目前正在测试的被测电容器。

6.一种电容器温度特性自动测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

高低温箱中设置的温度传感器检测当前实时温度,并将温度信号转换为电信号,上传给上位机;

所述上位机根据所述温度信号控制单片机;

所述单片机控制电容切换模块的继电器组进行被测电容器通路的选择,实现安捷伦电容电桥与置于高低温箱中的被测电容器组的对应通、断连接,自动切换安捷伦电容电桥与被测电容的连接,分别实现当前温度下各被测电容器组的电容性能参数测试;

所述安捷伦电容电桥通过单片机不断地将测试结果上传到上位机;

所述上位机实现测量数据的自动采集。

7.如权利要求1所述的电容器温度特性自动测试方法,其特征在于,所述温度设置为从-55℃匀速升温至155℃。

8.如权利要求1所述的电容器温度特性自动测试方法,其特征在于,该方法还包括以下步骤:

所述上位机记录、分析和存储被测电容的测试结果数据。

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