[发明专利]一种在立方晶体背射劳埃照片上标定(111)晶面的方法有效

专利信息
申请号: 201310541278.5 申请日: 2013-11-05
公开(公告)号: CN103529066A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 马雁;许雁泽;张书玉;陈义学 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 北京麟保德和知识产权代理事务所(普通合伙) 11428 代理人: 周恺丰
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 立方 晶体 背射劳埃 照片 标定 111 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于单晶材料定向标定技术领域,尤其涉及一种在立方晶体背射劳埃照片上标定(111)晶面的方法。

背景技术

劳埃法是进行X射线单晶定向的主要方法之一。劳埃法的一个重要的环节就是对劳埃照片进行有效准确的分析。在文献1(“单晶体取向测定”,《物理测试》,傅良霹,1986)和文献2(“应用劳埃法测定晶体的取向和对称性”,《物理测试》,陈曰中,1986)中,对使用劳埃法进行单晶定向的原理和实施方法进行了详细的描述。针对立方晶体,在有些情况下,劳埃照片中仅需要测得(111)晶面的位置,如仅要求对(111)晶面的定向切割。文献3(“钼单晶的判定及其偏离角的测试”,《理化检验-物理分册》,雷新颖)中提到测量钼单晶(111)晶面取向偏离角的测试,即只需要考虑到(111)晶面所在位置的情况。

在(111)晶面取向偏离角不大的劳埃照片上标定(111)晶面时,如果按照传统方法,须使用格氏网和吴氏网对劳埃照片上的衍射斑点进行测量,并通过旋转操作使得低指数晶带落到基圆上,再与标准极图进行对比,标定衍射斑点。再通过反向操作,测出(111)晶面在原来劳埃照片上的位置。这种方法可以标定大多数晶面,但是由于格氏网和吴氏网的最小分度为1或2度,这种测量方法的精度受到很大制约。同时大量的衍射斑点读数费时费力。

有一款劳埃斑点分析软件ORIENTEXPRESS也可对劳埃照片进行分析,标定(111)晶面,其优点是:标定时简便快捷、测量方便且不需要大量的读数和旋转操作;其局限是:必须对劳埃照片进行扫描并导入电脑,测量前需获得的参数较多,如晶体的晶格常数、照片尺寸和像素,并且当采用劳埃法照相时,晶体与底片间的距离测量不准时,该软件会出现测量不出结果的情况。

发明内容

本发明的目的在于,提供一种在立方晶体背射劳埃照片上标定(111)晶面的方法,用于解决使用传统标定方法或标定软件在劳埃照片上标定(111)晶面时存在的不足。

为了实现上述目的,本发明提出的技术方案是,一种在立方晶体背射劳埃照片上标定(111)晶面的方法,其特征是所述方法包括:

步骤1:获取劳埃照片,测量劳埃照片与晶体间距离h;

步骤2:在劳埃照片的三条低指数晶带上分别找出一个属于同一晶面族的衍射斑点;

步骤3:在劳埃照片底部衬上一张坐标纸;

步骤4:调整劳埃照片,使得三个所述衍射斑点中的任意两个衍射斑点分别位于坐标纸原点和x轴正方向上;

将位于坐标纸原点的衍射斑点记为A点,位于坐标纸x轴正方向上的衍射斑点记为B点,剩下一个衍射斑点记为C点;

步骤5:分别读取B点、C点和劳埃照片中心点在坐标纸上的坐标;

步骤6:根据如下方程组求解(111)晶面的衍射斑点在坐标纸上的坐标x和y,以及辅助验算项z;

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