[发明专利]X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法有效
| 申请号： | 201310517862.7 | 申请日： | 2013-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN103529067A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 吴飞;杨春艳 | 申请（专利权）人： | 吉林建龙钢铁有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人： | 白冬冬 |
| 地址： | 132104*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 荧光 光谱 测定 铁矿石 检测 试剂 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法，其特征在于：
制备内标钴粉：取无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、三氧化二钴于烧杯中混匀，置于Pt—Au坩埚中，加入硝酸锂和溴化锂，放入高频熔样炉于1100℃温度下熔融：一热时间3min，温度600℃；二热时间3min，温度1100℃；熔融时间4min，温度1100℃；自冷5min，风冷4min取出，熔好的玻璃片在震动磨中震动磨样2min取出，装瓶放入干燥器中待用；
其中水四硼酸锂-偏硼酸锂∶三氧化二钴∶硝酸锂∶溴化锂=15∶1∶0.6∶0.4；
玻璃熔片的制备：取灼烧并冷却后的无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、试样、内标钴粉及硝酸锂、溴化锂于瓷坩埚中，混匀，置于Pt—Au坩埚中，再将坩埚置于高频熔样炉中，在1100℃进行熔融：一热时间3 min，温度600℃；二热时间3 min，温度1100℃；熔融时间4min，温度1100℃；自冷5min，风冷4min取出，全程19min,即制成熔融玻璃片，使用X射线荧光光谱仪进行分析；
其中无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂∶试样∶内标钴粉∶硝酸锂∶溴化锂=10∶1∶1∶0.6∶0.4；
其中所述的试样是检测样品铁矿石。
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