[发明专利]一种硅基微腔激光器的制作方法有效
申请号: | 201310510520.2 | 申请日: | 2013-10-25 |
公开(公告)号: | CN103579902A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 周旭亮;于红艳;李梦珂;潘教青;王圩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01S5/323 | 分类号: | H01S5/323;H01S5/10 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅基微腔 激光器 制作方法 | ||
1.一种硅基微腔激光器的制作方法,包括以下步骤:
步骤1:在硅衬底正面,采用超高真空化学气相沉积方法外延锗层;
步骤2:将外延有锗层的硅衬底放入MOCVD反应室中,并先后分别生长低温成核砷化镓层和高温砷化镓层;
步骤3:将高温砷化镓层表面抛光后外延激光器结构;
步骤4:在激光器结构上干法刻蚀形成微腔和输出波导;
步骤5:在形成微腔和输出波导后沉积二氧化硅层,在微腔上方开出电极窗口;
步骤6:在二氧化硅层和电极窗口上表面制作正电极,并做电极隔离;
步骤7:在硅衬底背面制作背电极,完成器件的制作。
2.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中,硅衬底为偏[011]方向4°的低阻n型(100)衬底,经过标准硅片清洗后放入反应室。
3.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中锗层的缺陷密度小于1×106cm-2,表面粗糙度小于1nm,锗层的掺杂浓度为n型1×1018cm-3至5×1018cm-3之间。
4.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中生长高温砷化镓层和激光器结构的温度相同,均为620~660℃之间;高温砷化镓层的缺陷密度在1×106cm-2以下,掺杂浓度为n型1×1018cm-3至5×1018cm-3之间。
5.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中抛光去除高温砷化镓层的厚度小于100nm,最后达到的粗糙度小于0.5nm。
6.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中激光器结构从下至上依次包括n型GaAs缓冲层、n型A10.5Ga0.5As包层、Al0.25Ga0.25As下限制层、GaAs波导层、有源区、GaAs波导层、Al0.25Ga0.25As上限制层、p型Al0.5Ga0.5As包层和p型GaAs接触层。
7.根据权利要求5所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中,有源区为两个周期的InGaAs阱和GaAs垒,发光波长大于1100nm。
8.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中刻蚀微腔和输出波导的深度到高温砷化镓层。
9.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中微腔为直径5~15μm的圆盘,输出波导为宽0.5~1.5μm的长方体,输出波导的一端与微腔相连。
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