[发明专利]一种硅基微腔激光器的制作方法有效

专利信息
申请号: 201310510520.2 申请日: 2013-10-25
公开(公告)号: CN103579902A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 周旭亮;于红艳;李梦珂;潘教青;王圩 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/323 分类号: H01S5/323;H01S5/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 硅基微腔 激光器 制作方法
【权利要求书】:

1.一种硅基微腔激光器的制作方法,包括以下步骤:

步骤1:在硅衬底正面,采用超高真空化学气相沉积方法外延锗层;

步骤2:将外延有锗层的硅衬底放入MOCVD反应室中,并先后分别生长低温成核砷化镓层和高温砷化镓层;

步骤3:将高温砷化镓层表面抛光后外延激光器结构;

步骤4:在激光器结构上干法刻蚀形成微腔和输出波导;

步骤5:在形成微腔和输出波导后沉积二氧化硅层,在微腔上方开出电极窗口;

步骤6:在二氧化硅层和电极窗口上表面制作正电极,并做电极隔离;

步骤7:在硅衬底背面制作背电极,完成器件的制作。

2.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中,硅衬底为偏[011]方向4°的低阻n型(100)衬底,经过标准硅片清洗后放入反应室。

3.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中锗层的缺陷密度小于1×106cm-2,表面粗糙度小于1nm,锗层的掺杂浓度为n型1×1018cm-3至5×1018cm-3之间。

4.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中生长高温砷化镓层和激光器结构的温度相同,均为620~660℃之间;高温砷化镓层的缺陷密度在1×106cm-2以下,掺杂浓度为n型1×1018cm-3至5×1018cm-3之间。

5.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中抛光去除高温砷化镓层的厚度小于100nm,最后达到的粗糙度小于0.5nm。

6.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中激光器结构从下至上依次包括n型GaAs缓冲层、n型A10.5Ga0.5As包层、Al0.25Ga0.25As下限制层、GaAs波导层、有源区、GaAs波导层、Al0.25Ga0.25As上限制层、p型Al0.5Ga0.5As包层和p型GaAs接触层。

7.根据权利要求5所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中,有源区为两个周期的InGaAs阱和GaAs垒,发光波长大于1100nm。

8.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中刻蚀微腔和输出波导的深度到高温砷化镓层。

9.根据权利要求1所述的一种硅基微腔激光器的制作方法,其中微腔为直径5~15μm的圆盘,输出波导为宽0.5~1.5μm的长方体,输出波导的一端与微腔相连。

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