[发明专利]用于测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域,更具体的涉及一种用于测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试装置。

背景技术

目前在电子行业,微小元器件和易破碎元器件因形变应力损伤失效是一个重点问题项目,对元件耐应力测试和抗弯曲能力测试是评估元件质量的重要手段。

目前,电子行业中测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试手段并不统一，部分电子元件的测试无法提供确定的测试数据。比如，贴片电容，贴片电阻等电子元件的测试项目，通常是采用手动测试的方法。采用手动按压电子元件的测试方法，无法提供电子元件的精确形变量数据，而且施加于电子元件的压力及施压时间不够精确，因此，在测试上述电子元件时，无法提供具体的、可靠的数据，试验数据起不到参考意义。

因此，如何解决现有技术中电子元件测试无法提供具体可靠地试验数据的问题，成为本领域技术人员所要解决的重要技术问题。

发明内容

本发明提供了一种用于测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试装置,其能够提供精确可靠地试验数据，进而可以精确地对电子元件抗弯曲和耐应力能力进行测试。

本发明提供的一种用于测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试装置,包括：

用于固定电子元件的夹具；

用于按压所述电子元件的按压部件；

驱动所述按压部件对所述电子元件进行按压的驱动装置；

控制所述驱动装置的驱动行程和对所述电子元件的按压时间的控制装置；

用于感应施加于所述电子元件的按压力的压力感应装置。

优选地,还包括用于显示所述电子元件的变形量、所述按压时间和所述按压力的显示装置。

优选地,还包括用于设置预设时间的时间预设模块,当所述按压时间等于所述预设时间时,所述控制装置控制所述驱动装置松开对所述电子元件的按压。

优选地,所述驱动装置为气缸。

优选地,所述夹具包括底座和连接于所述底座上的两个支座,两个所述支座之间具有间隙,所述电子元件搭在两个所述支座上。

优选地,所述支座包括支座本体和设置于所述支座本体的上部的两个夹紧块,两个所述夹紧块之间形成用于夹持所述电子元件的空间。

优选地,所述夹紧块通过松紧调节螺栓连接于所述支座本体上。

优选地,所述底座上设有滑轨,两个所述支座通过所述滑轨连接于所述底座。

本发明提供的一种用于测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试装置,包括：用于固定电子元件的夹具;用于按压所述电子元件的按压部件；驱动所述按压部件对所述电子元件进行按压的驱动装置;控制所述驱动装置的驱动行程和对所述电子元件的按压时间的控制装置；用于感应施加于所述电子元件的按压力的压力感应装置。如此设置,通过本发明提供的测试装置对电子元件进行测试时,首先将电子元件放置在夹具上,而后控制装置控制驱动装置启动,驱动装置驱动按压部件按压在电子元件上,由于控制装置能够控制驱动装置的驱动行程，故可精确地控制电子元件的变形量,待驱动装置驱动按压部件运动到预定位置后,电子元件在按压部件的按压作用下,产生变形，此时，压力感应装置感应电子元件受到的压力，待按压到预定时间后，控制装置控制驱动装置驱动按压部件收回。显然,本发明提供的测试装置,能够精确地控制电子元件的变形量和按压时间,并能通过压力感应装置精确地感应按压力的大小。因此,本发明提供的用于测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试装置,其能够提供精确可靠地试验数据,进而可以精确地对电子元件抗弯曲和耐应力能力进行测试。

附图说明

图1为本发明具体实施方式中夹具的结构示意图；

图1中：

夹具-1、按压部件-2、底座-3、支座-4、电子元件-5、支座本体-6、夹紧块-7、松紧调节螺栓-8、滑轨-9。

具体实施方式

本具体实施方式提供了一种用于测试电子元件抗弯曲和耐应力能力的测试装置,其能够提供精确可靠地试验数据,进而可以精确地对电子元件抗弯曲和耐应力能力进行测试。

为了使本领域技术人员更好的理解本发明技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。