[发明专利]一种芯片漏电流测试系统

权利要求书

1.一种芯片漏电流测试系统，其特征在于，包括：

测试装置和测试主机，所述测试主机通过通信接口与所述测试装置连接，所述测试装置通过测试接口与待测芯片连接；

所述测试装置包括漏电流采集电路、微控制器和电源电路，所述电源模块为所述测试装置提供工作电压，所述电流采集电路检测所述待测芯片的引脚的漏电流，并将所述漏电流进行放大滤波处理和数字化处理生成数字信号，所述微控制器根据预置的参考值和所述数字信号的比较结果判断所述测试芯片的引脚的漏电流测试是否通过，将测试结果存储至本地，所述测试主机读取所述测试结果并根据所述测试结果生成测试报告。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置还包括一个半导体开关，所述半导体开关连接在所述漏电流采集电路和所述待测芯片的引脚之间，所述微控制器向所述半导体开关发出控制指令以控制所述待测芯片的引脚与所述漏电流采集电路的通断。

3.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述电压电路的输出电压通过测试接口加载到所述待测芯片的引脚上，所述微控制器通过脉冲宽度调制调节所述电源电路的输出电压。

4.如权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于，所述电源电路输出的电压和电流通过测试接口加载到所述待测芯片的引脚上，所述微控制器根据测量得到的漏电流值选择对应的测量档位。

5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置包括上盖、下盖、前侧板和后侧板，所述上盖及下盖间设有测试电路板、设有通信接口的通信接口板和设有测试接口的测试接口板，所述漏电流采集电路、微控制器和电源电路设在所述测试电路板上，所述通信接口板和测试接口板均与所述测试电路板电气连接。

6.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述测试接口板上设有2.45mm连接器，所述待测芯片通过所述2.45mm连接器与所述测试接口板连接。

7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述通信接口板上设有USB接口，所述测试主机通过所述USB接口与所述测试接口板连接。