[发明专利]用于反向的X射线-相位对比成像的装置和方法

权利要求书

1.一种用于反向的X射线-相位对比成像的装置，其特征在于：

-对光子进行计数的X射线探测器（5），

-多射束X射线管（4），这样准直其焦点（8），使得可以分别产生狭长的X射线束（7），其在方向上对准所述装置的光学轴（6）以及对准X射线探测器（5），

-其中所述X射线探测器（5）的有效面积至少和狭长的X射线束（7）的横截面面积一样大，

-在X射线管（4）和X射线探测器（5）之间布置的源光栅（G0），这样设置其尺寸大小，使得其可以由多射束X射线管（4）的所有狭长的X射线束（7）透射，

-在源光栅（G0）和X射线探测器（5）之间布置的衍射光栅（G1），这样设置其尺寸大小，使得其可以由穿过源光栅（G0）的所有狭长的X射线束（7）透射，和

-在衍射光栅（G1）和X射线探测器（5）之间布置的吸收光栅（G2），这样设置其尺寸大小，使得其可以由穿过衍射光栅（G1）的所有狭长的X射线束（7）透射。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述吸收光栅（G2）的可透射面积大于或等于X射线探测器（5）的、接收光子的有效面积。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述吸收光栅（G2）的可透射面积小于所述衍射光栅（G1）的可透射面积，并且所述衍射光栅（G1）的可透射面积小于所述源光栅（G0）的可透射面积。

4.根据上述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述源光栅（G0）、所述衍射光栅（G1）和所述吸收光栅（G2）相互平行布置并且与光学轴（6）垂直。

5.根据上述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述X射线探测器（5）的有效面积的宽度和长度大于1cm而小于10cm。

6.根据上述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述焦点（8）顺序可控。

7.一种用于反向的X射线-相位对比成像的方法，其特征在于：

-借助多射束X射线管（4）产生狭长的X射线束（7），这样准直其焦点（8），使得所述狭长的X射线束（7）对准X射线管（4）的光学轴（6）以及对准对光子进行计数的X射线探测器（5），

-透射在X射线管（4）和X射线探测器（5）之间布置的源光栅（G0），

-透射在源光栅（G0）和X射线探测器（5）之间布置的衍射光栅（G1），以及

-透射在衍射光栅（G1）和X射线探测器（5）之间布置的吸收光栅（G2）。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，顺序地控制多个焦点（8）。

9.根据权利要求7或8所述的方法，借助根据权利要求1到5中任一项所述的装置来执行。