[发明专利]发光二极管测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及发光二极管照明领域，尤其涉及一种用以测试发光二极管的工作稳定性的发光二极管测试装置。

背景技术

发光二极管（light emitting diode，LED）作为一种高效的发光源，具有环保、省电、寿命长等诸多特点已经被广泛的运用于各种领域。LED固态光源由于能产生更高的亮度，可以实现室内外照明，也将取代白炽灯和荧光灯等现有光源，获得更加广泛的运用。

在实际生产LED的过程中，制造完成后需对LED的工作稳定性进行测试。目前通行的LED工作稳定性试验方法是在同型号、同批次制造的LED产品中，抽取一定数量的样品进行测试，在测试过程中测量其性能参数，根据相应的工作寿命算法推算出该型号、该批次的LED的使用寿命。

然而，逐个、依次地对抽取出的样品进行测试，会耗用较长的测试时间，使得对LED的整体测试效率较低。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种具有较高测试效率的发光二极管测试装置。

一种发光二极管测试装置，用以对若干发光二极管进行测试，该发光二极管测试装置包括一固定基板、装置于该固定基板上用于分别承载发光二极管并与发光二极管导热性贴合的若干导热部及装置于该固定基板上用于分别与发光二极管导电性连接的若干电连接部，每一电连接部包括用于分别与发光二极管导电性连接的第一电连接部及第二电连接部，该导热部能够相对于该电连接部的第一电连接部、第二电连接部弹性地伸缩，从而实现装置所述发光二极管于导热部上且该导热部将发光二极管抵靠在所述电连接部的第一电连接部、第二电连接部上或将所述发光二极管从导热部上取出。

进一步地，所述导热部包括设置于所述固定基板上的安装件、夹置于该安装件与固定基板之间的弹性件及卡置于该固定基板下方的卡件。

所述固定基板的顶面上开设有若干容置槽，每一容置槽对应配合安装一导热部，该固定基板对应每一容置槽处对应开设一穿孔，该穿孔向下延伸贯通该固定基板的底面，所述安装件包括用于与所述发光二极管的底部导热性贴合的顶盖及由该顶盖的底面中部向下延伸的凸伸杆，所述弹性元件容置于容置槽内并夹置于安装件的顶盖与固定基板之间，所述凸伸杆穿置于所述容置槽处的穿孔内，该凸伸杆的底部嵌置于所述卡件内以与卡件固定相连。

所述固定基板的顶面上对应每一容置槽周围对应形成有一对卡槽，每一对卡槽用以与一电连接部的第一电连接部、第二电连接部对应配合安装。

所述第一电连接部包括对应卡置于所述一对卡槽的其中一卡槽内的一第一电极座、由该第一电极座延伸而出用于与发光二极管电连接的一第一压杆及穿置于对应卡槽处的固定基板内的一第一电连接柱，所述第二电连接部包括对应卡置于所述一对卡槽的其中另一卡槽内的一第二电极座、由该第二电极座延伸而出用于与发光二极管电连接的一第二压杆及穿置于对应卡槽处的固定基板内的一第二电连接柱。

所述第一电连接部的第一电极座呈倒置的T形，其包括一卡置于对应卡槽内的第一基块及由该第一基块的顶面中部向上凸伸而出的一第一固定块，所述第一压杆的一端固定于第一电极座的第一固定块内，该第一压杆的另一端位于导热部的上方用以与发光二极管电连接，所述第一电连接柱的顶部嵌置于第一电极座内，该第一电连接柱的底部穿过固定基板的底面并延伸至固定基板的下方，所述第二电连接部的第二电极座呈倒置的T形，其包括一卡置于对应卡槽内的第二基块及由该第二基块的顶面中部向上凸伸而出的一第二固定块，所述第二压杆的一端固定于第二电极座的第二固定块内，该第二压杆的另一端位于导热部的上方用以与发光二极管电连接，所述第二电连接柱的顶部嵌置于第二电极座内，该第二电连接柱的底部穿过固定基板的底面并延伸至固定基板的下方。

所述弹性件为弹簧，其穿置于所述安装件的凸伸杆上。

所述发光二极管测试装置还包括设置于所述固定基板底部的散热基板。

所述散热基板上开设有若干贯穿散热基板的通孔，所述通孔对应与所述固定基板的穿孔连通，所述凸伸杆的底部穿过固定基板的底面并由通孔继续向下凸伸出该散热基板而与所述卡件相连，所述卡件卡置于该散热基板的底面下方并与该散热基板导热性接合。

所述固定基板为中心对称结构，所述导热部及电连接部相对于该固定基板的中心呈放射状排布于该固定基板的顶面上，或者所述导热部及电连接部按阵列排列方式排布于该固定基板的顶面上。