[发明专利]内建快速自动测试电路的发光二极管装置

说明书

技术领域

本发明涉及发光二极管的测试技术领域，尤其涉及一种内建快速自动测试电路的发光二极管装置。

背景技术

美国无线电公司(Radio Corporation of America,RCA)的鲁宾布朗石泰(Rubin Braunstein)于1955年首次发现了砷化镓(GaAs)及其他半导体合金的红外放射作用。而通用电气公司(General Electric Company,GE)的尼克何伦亚克(Nick Holonyak Jr.)则于1962年开发出第一种实际应用的可见光发光二极管(LED)。

随着LED技术的不断开发，LED的辉度或是使用寿命已大幅的改进，其已经逐步在取代传统照明元件。用LED背光取代手持装置原有冷阴极灯管(CCFL)背光，不仅电路设计更简洁容易，且有较高的外力抗受性。用LED背光取代液晶显示器原有的冷阴极灯管(CCFL)背光，不仅更环保而且显示更逼真亮丽。另外，用LED照明取代白光灯、卤素灯等照明，不仅更光亮省电，使用期限也较长，且点亮速度更快，用于煞车灯时也能减少后车追撞率。除了在照明的应用外，大部分的电子产品也都采用LED作为指示灯，例如主机板、显示卡和网路卡也都有LED指示灯，用来指示电路板的工作状态。

图1为一现有发光二极管(LED)的测试的示意图。其在一发光二极管封装100中分别具有红色、蓝色、绿色的发光二极管(LED)。一测试机台(图中未示出)分别控制开关101、102、103，当开关101关闭时，使得红色发光二极管一端接地，另一端接高电压(Vdd)，由此点亮该红色发光二极管。一分光谱仪器(图中未示出)则用于检测该红色、蓝色、绿色的发光二极管(LED)发出的光的饱和度在光谱上的是否满足所需的要求，由此以对发光二极管(LED)进行检测。

图2为一现有发光二极管(LED)封装200的示意图。此种发光二极管(LED)封装200具有一控制及驱动电路210，其依据序列输入端DI所输入的数据，分别驱动红色、蓝色、绿色的发光二极管(LED)。对图2的发光二极管(LED)封装200进行测试时，由于现有测试机台仅提供V+(相对于Vdd)、V-(相对于Gnd)两信号，故需另接一电路板220，并由电路板220上的一微处理器221经过一串行外围设备接口总线(Serial Peripheral Interface Bus,SPI)，将测试图形(test pattern)经由DI接脚输入至该控制及驱动电路210。

图3为图2的4支接脚的双列直插封装(Dual in package4,DIP4)的封装示意图。图4为图2的4支接脚的表面组装技术(Surface Mount Technology6,SMT6)封装的示意图。但DIP4及SMT6的封装在目前的发光二极管测试机台并无法通过输入脚位DI来控制并进而驱动红色、蓝色、绿色的发光二极管(LED)以确保封装的品质，因此就需要利用外部的微处理器221来搭配测试，但这对庞大的LED数量而言，其测试的速度太慢。也即，图3中DIP4封装的LED装置及图4中SMT6封装的LED装置的测试都是采用半人工方式，半人工测试的缺点是测试的速度太慢，而导致产出太慢。因此，现有发光二极管测试仍有改善的空间。

发明内容

本发明的目的主要在于提供一种内建快速自动测试电路的发光二极管装置，该装置可节省发光二极管装置的大量测试时间，有效地增加测试效率，并可用在现有的发光二极管测试机台。

依据本发明的一特色，本发明提出一种内建快速自动测试电路的发光二极管装置，其包含至少一发光二极管单元、一数据移位及闩锁单元、一控制单元、至少一多工单元、及一发光二极管驱动单元。该数据移位及闩锁单元用以接收一序列数据信号。该控制单元用以接收该序列数据信号，依据该序列数据信号检测是否有正常数据传输，且当无数据传输时，将一多工控制信号致能。该至少一多工单元连接至该控制单元与该数据移位及闩锁单元，依据该控制单元输出的该多工控制信号，以选择该数据移位及闩锁单元或该控制单元为该至少一多工单元的输出。该发光二极管驱动单元，连接至该至少一发光二极管单元及该至少一多工单元，依据该至少一多工单元的输出信号，以驱动该至少一发光二极管单元。

优选地，所述序列数据信号为一第一位准(1)，且在超过一第一预设时间时，该控制单元判定无正常数据传输。

优选地，所述序列数据信号为一第二位准(0)，且在超过一第二预设时间时，该控制单元判定无正常数据传输。

优选地，所述序列数据信号非一第一位准(1)或非一第二位准(0)时，该控制单元判定无正常数据传输。