[发明专利]内建快速自动测试电路的发光二极管装置有效
申请号: | 201310317183.5 | 申请日: | 2013-07-25 |
公开(公告)号: | CN104345257B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 张誉钟 | 申请(专利权)人: | 凌通科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司11314 | 代理人: | 程伟,王刚 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 快速 自动 测试 电路 发光二极管 装置 | ||
1.一种内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其包含:
至少一发光二极管单元;
一数据移位及闩锁单元,其用以接收一序列数据信号;
一控制单元,其用以接收该序列数据信号,依据该序列数据信号检测是否有正常数据传输,且当无正常数据传输时,将一多工控制信号致能;
至少一多工单元,其连接至该控制单元与该数据移位及闩锁单元,依据该控制单元输出的该多工控制信号,以选择该数据移位及闩锁单元或该控制单元为该至少一多工单元的输出;以及
一发光二极管驱动单元,其连接至该至少一发光二极管单元及该至少一多工单元,依据该至少一多工单元的输出信号,以驱动该至少一发光二极管单元。
2.根据权利要求1所述的内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其中,所述序列数据信号为一第一位准1,且在超过一第一预设时间时,该控制单元判定无正常数据传输。
3.根据权利要求1所述的内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其中,所述序列数据信号为一第二位准0,且在超过一第二预设时间时,该控制单元判定无正常数据传输。
4.根据权利要求1所述的内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其中,所述序列数据信号非一第一位准1或非一第二位准0时,该控制单元判定无正常数据传输。
5.根据权利要求1所述的内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其中,所述控制单元还包含:
一计时单元,其接收该序列数据信号,依据该序列数据信号而产生一第一致能信号;
一位准检测单元,其接收该序列数据信号,依据该序列数据信号而产生一第二致能信号;
一或门,其连接至该计时单元及该位准检测单元,依据该第一致能信号及该第二致能信号,产生该多工控制信号;以及
一测试图形产生单元,其连接至该或门及该至少一多工单元,当该多工控制信号致能时,输出测试图形至该至少一多工单元。
6.根据权利要求5所述的内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其中,所述发光二极管驱动单元使用脉冲宽度调制以驱动该至少一发光二极管单元,以使该至少一发光二极管单元产生灰阶。
7.根据权利要求6所述的内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其中,所述至少一发光二极管单元为下列其中之一:红色发光二极管、蓝色发光二极管、及绿色发光二极管。
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