[发明专利]用于晶圆级封装的电镀铜溶液及电镀方法有效

专利信息
申请号: 201310257144.0 申请日: 2013-06-25
公开(公告)号: CN103290438A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 王江锋;何志刚;陈建平;李云华;汪文珍;杨明 申请(专利权)人: 深圳市创智成功科技有限公司
主分类号: C25D3/38 分类号: C25D3/38;C25D7/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 万志香;郑彤
地址: 518103 广东省深圳市宝安区福*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 晶圆级 封装 镀铜 溶液 电镀 方法
【权利要求书】:

1.一种用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,包括:

铜盐:120-300g/L;酸:10-200g/L;氯离子:30-80mg/L;添加剂,所述添加剂包括以下用量的组分:

含硫化合物:0.001-0.3g/L;

聚氧醚类化合物:0.5-10g/L;

聚乙二醇:0.05-5g/L;

季铵盐:0.001-0.2g/L;

所述铜盐为无水硫酸铜,五水硫酸铜,甲基磺酸铜中的一种或几种;

所述酸为硫酸,甲基磺酸中的一种或两种;

所述聚氧醚类化合物是脂肪胺聚氧乙烯醚,聚氧丙烯甘油醚中的一种或两种。

2.根据权利要求1所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,包括:

铜盐:180-300g/L;酸:50-100g/L;氯离子:40-70mg/L,添加剂,所述添加剂包括以下用量的组分:

含硫化合物:0.01-0.2g/L;

聚氧醚类化合物:0.75-8g/L;

聚乙二醇:0.1-3.8g/L;

季铵盐:0.002-0.2g/L。

3.根据权利要求1所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,包括:

铜盐:180-300g/L;酸:50-80g/L;氯离子:40-60mg/L,添加剂,所述添加剂包括以下用量的组分:

含硫化合物:0.02-0.2g/L;

聚氧醚类化合物:3-7g/L;

聚乙二醇:0.8-2.5g/L;

季铵盐:0.02-0.2g/L。

4.根据权利要求1-3任一项所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述聚氧醚类化合物为聚氧丙烯甘油醚。

5.根据权利要求1-3任一项所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述含硫化合物为2-巯基噻唑啉、异硫脲丙磺酸内盐、3-(苯并噻唑-2-巯基)-丙烷磺酸盐中的一种或几种。

6.根据权利要求5所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述含硫化合物为异硫脲丙磺酸内盐、3-(苯并噻唑-2-巯基)-丙烷磺酸盐的一种或两种。

7.根据权利要求1-3任一项所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述聚乙二醇为PEG300,400,600,800,1000,1500,2000,3000,4000,5000,6000,8000,10000中的一种或几种;所述季铵盐为聚乙烯亚胺季铵盐,水溶性阳离子季铵盐中的一种或两种。

8.根据权利要求7所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述聚乙二醇为PEG6000,8000,10000中的一种或几种。

9.一种电镀方法,其特征在于,使用的电镀铜溶液为权利要求1-8任一项所述的用于晶圆级封装的电镀铜溶液,在晶圆级封装的铜硅通孔制程和铜柱制程中,电镀的工艺参数为:镀液温度为10-50℃,电流密度为0.2-20A/dm2

10.根据权利要求9所述的电镀方法,其特征在于,所述铜硅通孔制程的电镀工艺参数为:镀液温度为15-30℃,电流密度为0.3-4A/dm2;所述铜柱制程的电镀工艺参数为:镀液温度为20-40℃,电流密度为3-15A/dm2

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