[发明专利]用于晶圆级封装的电镀铜溶液及电镀方法有效
申请号: | 201310257144.0 | 申请日: | 2013-06-25 |
公开(公告)号: | CN103290438A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 王江锋;何志刚;陈建平;李云华;汪文珍;杨明 | 申请(专利权)人: | 深圳市创智成功科技有限公司 |
主分类号: | C25D3/38 | 分类号: | C25D3/38;C25D7/12 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 万志香;郑彤 |
地址: | 518103 广东省深圳市宝安区福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 晶圆级 封装 镀铜 溶液 电镀 方法 | ||
1.一种用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,包括:
铜盐:120-300g/L;酸:10-200g/L;氯离子:30-80mg/L;添加剂,所述添加剂包括以下用量的组分:
含硫化合物:0.001-0.3g/L;
聚氧醚类化合物:0.5-10g/L;
聚乙二醇:0.05-5g/L;
季铵盐:0.001-0.2g/L;
所述铜盐为无水硫酸铜,五水硫酸铜,甲基磺酸铜中的一种或几种;
所述酸为硫酸,甲基磺酸中的一种或两种;
所述聚氧醚类化合物是脂肪胺聚氧乙烯醚,聚氧丙烯甘油醚中的一种或两种。
2.根据权利要求1所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,包括:
铜盐:180-300g/L;酸:50-100g/L;氯离子:40-70mg/L,添加剂,所述添加剂包括以下用量的组分:
含硫化合物:0.01-0.2g/L;
聚氧醚类化合物:0.75-8g/L;
聚乙二醇:0.1-3.8g/L;
季铵盐:0.002-0.2g/L。
3.根据权利要求1所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,包括:
铜盐:180-300g/L;酸:50-80g/L;氯离子:40-60mg/L,添加剂,所述添加剂包括以下用量的组分:
含硫化合物:0.02-0.2g/L;
聚氧醚类化合物:3-7g/L;
聚乙二醇:0.8-2.5g/L;
季铵盐:0.02-0.2g/L。
4.根据权利要求1-3任一项所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述聚氧醚类化合物为聚氧丙烯甘油醚。
5.根据权利要求1-3任一项所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述含硫化合物为2-巯基噻唑啉、异硫脲丙磺酸内盐、3-(苯并噻唑-2-巯基)-丙烷磺酸盐中的一种或几种。
6.根据权利要求5所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述含硫化合物为异硫脲丙磺酸内盐、3-(苯并噻唑-2-巯基)-丙烷磺酸盐的一种或两种。
7.根据权利要求1-3任一项所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述聚乙二醇为PEG300,400,600,800,1000,1500,2000,3000,4000,5000,6000,8000,10000中的一种或几种;所述季铵盐为聚乙烯亚胺季铵盐,水溶性阳离子季铵盐中的一种或两种。
8.根据权利要求7所述用于晶圆级封装的电镀铜溶液,其特征在于,所述聚乙二醇为PEG6000,8000,10000中的一种或几种。
9.一种电镀方法,其特征在于,使用的电镀铜溶液为权利要求1-8任一项所述的用于晶圆级封装的电镀铜溶液,在晶圆级封装的铜硅通孔制程和铜柱制程中,电镀的工艺参数为:镀液温度为10-50℃,电流密度为0.2-20A/dm2。
10.根据权利要求9所述的电镀方法,其特征在于,所述铜硅通孔制程的电镀工艺参数为:镀液温度为15-30℃,电流密度为0.3-4A/dm2;所述铜柱制程的电镀工艺参数为:镀液温度为20-40℃,电流密度为3-15A/dm2。
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