[发明专利]全自动微量位移监控仪

说明书

技术领域

本发明属于汽车部件试验仪器领域，尤其是涉及一种全自动微量位移变化监控仪。 

背景技术

在汽车底盘部件及其它相关的刚性部件试验中，特别是耐久试验过程中，样品在既定的载荷试验条件下，样品的变形量会随着时间的累积逐渐增大。如果试验者对试验过程中位移的增量提出要求，传统的方式测量变形量一般采用电子位移传感器监控变形量及变形增量。而电子传感器的固有属性决定了其在使用过程中，容易出现零点偏移及噪声干扰等问题，使测量结果产生偏差。如果试验者对位移量增量的要求较高时，用电子位移传感器监控试验过程中样品位移增量并不能准确的反映试验情况，对试验的准确性带来影响。 

发明内容

本发明要解决的问题是提供一种全自动微量位移变化监控仪，包括电控单元、动触头、静触头、调节杆、粗调节机构、粗调节支架和固定杆，静触头包括相互连接的静触点、旋转连接机构、微调节机构和微调节支架，旋转连接机构与微调节机构连接，微调节机构与第一驱动电机连接，微调节机构又通过微调节支架固定在调节杆上，微调节支架可在调节杆上滑动和锁紧，调节杆和固定杆通过相互配合的粗调节机构和粗调节支架连接，设置于被测试零部件上的动触头包括动触头支架和动触点，动触点由安装在动触头支架上的上动触点和下动触点组成，上动触点和下动触点相互导通连接。 

进一步，静触头为成对称布置的两个，分别设置于所述动触头的两边。 

进一步，粗调节支架为由两段旋转杆和中间的连接轴组成的可调节相对 角度并可锁紧固定的可旋转支架。 

进一步，粗调节支架设置在由粗调节机构控制的调节杆上，粗调节机构由调节杆内部的螺纹杆和第二驱动电机组成，粗调节支架与螺纹杆配合连接。 

更进一步，第一驱动电机和第二驱动电机输出端均安装减速机。 

进一步，微调节机构为螺旋测微机构。 

进一步，上动触点和所述下动触点通过绝缘环固定于所述动触头支架上。 

进一步，静触点与旋转连接机构之间设置绝缘安装座。 

本发明还提供了全自动微量位移变化监控仪的操作方法，步骤如下： 

a试验样品安装完成并将动触头固定于设备与试件的连接处（或固定与试件或设备动端），开动试验设备。此时动触头处于往复运动的状态，固定微量位移监控仪以保证静触头靠近但不接触动触头。 

b在控制界面输入试验频率f和允许的试件最大变形增量S，系统会对输入的增量S与设备的行程进行判断，如果超过量程，会提示用户修改输入量S或告知设备不满足使用要求。 

c输入完成后，系统将记录试验时间的计数器置零，并开始记录试验时间。 

d第一驱动电机驱动静触头自动靠近动触头，直至动触点和静触点导通。 

e动静触点导通后，此时动触点的位置就是试件在载荷作用下最大的变形量位置，系统将显示位移量置零。然后反转电机朝远离动触头方向移动参数S的距离，等待与动触头再次接触。 

f试验进行到一定次数时，动触点与静触点再次导通，即为试件失效，试验结束。此时系统发出指令给试验设备自动停机并记录持续的试验，系统 根据试验频率f计算出试验次数，同时给出声、光报警信号。 

进一步，上述的步骤d包括以下步骤： 

d1第二驱动电机驱动静触头自动靠近动触头，由于第二驱动电机调整存在过量的可能，进而需要应用第一驱动电机做微量调整，调整量应提前预留。此时系统会反转第一驱动电机调大动触头和静触头的距离，该距离为第二驱动电机动作的距离。如果超过系统限位，则是因为试验频率过低导致调节幅值过大，应人为干预完成动静触点的导通。 

d2第二驱动电机驱动静触头向下移动，直至动静触点导通。该过程中，如果触及第二驱动电机下限位，系统会提示初始设置动静触点的距离过大，应手动重新调整。 

d3动静触点导通后，第二驱动电机反转，持续时间

d4第一驱动电机驱动静触头向下移动，再次自动靠近动触头，直至动触点和静触点导通。调节过程中，系统会对基本运动状态进行相应的判断。 

本发明具有的优点和积极效果是：由于采用上述技术方案，监控的位移量准确且不受试验仪器精度及其它环境因素的影响；测量范围大、适应被测试件能力强；自动控制系统使用方便、快速、准确；能在第一时间对设备进行停机操作，实现无人值守，节约能源。 

附图说明

图1是本发明的总成结构示意图 

图2是本发明的动触头结构示意图 

图3是本发明的静触头结构示意图