[发明专利]一种印品图像检测系统及方法有效
申请号: | 201310238037.3 | 申请日: | 2013-06-17 |
公开(公告)号: | CN103325116A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 张健;冯治国;秦庆旺;冯礼;卢继兵;吴四夫;眭俊华;刘慧娜;韩英魁;刘李泉;董学良;孙进强;王建鑫;包诚;魏智韬 | 申请(专利权)人: | 中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06F13/38 |
代理公司: | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人: | 尚志峰;汪海屏 |
地址: | 100070 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 检测 系统 方法 | ||
1.一种印品图像检测系统,其特征在于,包括:
至少一颗DSP芯片,用于从服务器下载配置参数,根据所述配置参数对从FPGA芯片接收到的第一中间数据进行配置处理,得到所述印品图像的第二中间数据,将所述第二中间数据传输至所述FPGA芯片,并将从所述FPGA芯片接收到的所述印品图像的质量信息、所述第一中间数据和/或所述第二中间数据传输至上位机进行显示;
所述FPGA芯片,用于根据接收到的采集指令采集所述印品图像,根据第一预设算法对所述印品图像进行计算得到所述第一中间数据,根据第二预设算法对所述第二中间数据进行计算得到所述质量信息,并将所述质量信息和所述第一中间数据传输至所述至少一颗DSP芯片。
2.根据权利要求1所述的印品图像检测系统,其特征在于,所述FPGA芯片根据所述印品图像的像素数据和行列信息,计算出所述印品图像的坐标信息,并作为所述第一中间数据传输至所述至少一颗DSP芯片。
3.根据权利要求2所述的印品图像检测系统,其特征在于,所述至少一颗DSP芯片根据所述配置参数,对所述坐标信息进行计算,得到所述印品图像的旋转信息,作为所述第二中间数据传输至所述FPGA芯片。
4.根据权利要求3所述的印品图像检测系统,其特征在于,所述FPGA芯片根据所述旋转信息对所述印品图像进行旋转,并对旋转后的印品图像进行颜色空间转换,得到所述印品图像亮度、梯度及色差通道图像,根据所述各通道图像的配置检测参数对各个通道的图像进行计算得出所述质量信息。
5.根据权利要求3所述的印品图像检测系统,其特征在于,所述至少一颗DSP芯片还用于对所述印品图像进行缺陷图分析、尺寸计算和号码识别,并将处理结果添加至所述第二中间数据传输至所述上位机。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的印品图像检测系统,其特征在于,所述至少一颗DSP芯片还用于对所述印品图像进行相似性检测,并将检测结果传输至所述上位机进行显示。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的印品图像检测系统,其特征在于,所述至少一颗DSP芯片与所述FPGA芯片通过EMIF总线和/或RapidIO总线进行数据传输。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的印品图像检测系统,其特征在于,所述至少一颗DSP芯片通过千兆以太网与所述上位机进行数据传输。
9.根据权利要求8所述的印品图像检测系统,所述至少一颗DSP芯片通过现场实时总线Ethcat与机电控制系统进行数据传输。
10.根据权利要求1至5中任一项所述的印品图像检测系统,其特征在于,若所述DSP芯片包含多颗DSP芯片,所述多颗DSP芯片中的每两颗DSP芯片及千兆以太网构成Y型双节点方式传输数据。
11.一种印品图像检测方法,其特征在于,包括:
步骤202,FPGA芯片根据接收到的采集指令采集所述印品图像,根据第一预设算法对所述印品图像进行计算得到所述第一中间数据,并将所述第一中间数据传输至至少一颗DSP芯片;
步骤204,所述至少一颗DSP芯片从服务器下载配置参数,根据所述配置参数对所述第一中间数据进行配置处理,得到所述印品图像的第二中间数据,将所述第二中间数据传输至所述FPGA芯片;
步骤206,所述FPGA芯片根据第二预设算法对所述第二中间数据进行计算得到所述质量信息,并将所述质量信息传输至所述至少一颗DSP芯片;
步骤208,所述至少一颗DSP芯片将所述印品图像的质量信息、所述第一中间数据和/或所述第二中间数据传输至上位机进行显示。
12.根据权利要求11所述的印品图像检测方法,其特征在于,所述步骤202包括:所述FPGA芯片根据所述印品图像的像素数据和行列信息,计算出所述印品图像的坐标信息,并作为所述第一中间数据传输至所述至少一颗DSP芯片。
13.根据权利要求12所述的印品图像检测方法,其特征在于,所述步骤204包括:所述至少一颗DSP芯片根据所述配置参数,对所述坐标信息进行计算,得到所述印品图像的旋转信息,作为所述第二中间数据传输至所述FPGA芯片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司,未经中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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