[发明专利]多片双面薄膜快速沉积装置有效
申请号: | 201310233800.3 | 申请日: | 2013-06-13 |
公开(公告)号: | CN103276363A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 陶伯万;熊杰;朱昌伟;徐亚新;李言荣 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C23C14/50 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 双面 薄膜 快速 沉积 装置 | ||
技术领域
本发明涉及薄膜沉积技术。
背景技术
溅射方法制备的YBa2Cu3O7-δ(YBCO)超导层具有优异的微波性质,在液氮温度、10GHz下,其微波表面电阻(Rs)比Cu低两个数量级,用其制作的微波器件可广泛各个领域中。
传统的溅射方法制备薄膜有几个技术问题,①沉积速度慢,②制备的薄膜均匀性受限制,③产量低。采用平面靶溅射虽然能大大提高溅射速率,但是由于氧负离子反溅射问题在YBCO薄膜制备中的危害会严重薄膜的成分和电学性能而被抛弃。倒筒靶设计以及基片旋转的方式能解决负离子反溅射问题,但是由于靶基距较大不能得到较快的沉积速率从而影响制备效率。
美国专利(US6632282)公开了一种盘式多片材料沉积基片夹具系统,能够同时实现6片2英寸薄膜的均匀沉积。但该系统只能实现单面薄膜的沉积制备,而且该系统采取环状限位机构,对基片造成过大的遮挡,只有实现1.6英寸范围内薄膜的均匀分布,难以满足2英寸YBCO薄膜的应用要求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种多片双面薄膜快速沉积装置,实现同时多片双面薄膜的快速制备,制备的薄膜样品具有良好的面内均匀性和两面一致性。
本发明解决所述技术问题采用的技术方案是,多片双面薄膜快速沉积装置,包括基片台、传动机构、靶材盒,基片台和传动机构连接,其特征在于,所述基片台设置有至少两个通孔,通孔的两端设置有点式限位机构,基片台设置于第一加热片和第二加热片之间的加热腔中,第一加热片和第二加热片设置有作为沉积区的开口,开口位置与基片台上的通孔位置适配。
进一步的,第一加热片的开口和第二加热片的开口都与同一个通孔的位置适配。
所述靶材盒设有长方体形的槽,沿槽的内壁设置有陶瓷靶材,靶材盒还设置有包括水冷装置。
陶瓷靶材由导电胶牢固的粘在长方体槽内壁。
所述基片台、第一加热片和第二加热片处于平行的三个平面。
所述点式限位机构由三个互成120度夹角分布于通孔周边的限位点构成。
点式限位机构是指限位机构以离散的点状设置在通孔周围,优选为相互夹角120度的三点式分布,限位点可以由限位杆或限位片构成。
本发明的有益效果是,靶材盒独特的结构,既能有效抑制氧负离子的反溅射,又能具备平面靶溅射速率快的优点,另外可以将靶基距减小,达到提高薄膜沉积速率的目的;靶材盒的设计,可以很容易的用数学工具MATLAB仿真制得膜厚补偿挡片,从而制得高均匀性的薄膜。同时,也可以通过靶中心与基片中心错位的方式来提高薄膜厚度的均匀性。
本发明独特的基片台设计和旋转调节,可以实现6片/批次薄膜的均匀性制备;
本发明可以实现在衬底的两面同时快速生长薄膜,并且保证衬底两面薄膜的均匀性和两面的一致性,制备效率提高10倍以上。
本发明的点式限位机构对基片的遮挡极小,能够实现2英寸范围内薄膜的均匀分布。
附图说明
图1是本发明的一个具体实施方式——6孔基片台的示意图。图中,1为基片台,2为基片台的开孔,孔径为51.2mm,3为待镀膜的基片,直径为50.8mm,4为限位机构。
图2是6孔基片台的立体示意图。
图3是传动装置示意图。图中5为转动电机,6是传动杆,7是右盒型靶,8是左盒型靶。
图4是靶材盒结构示意图。其内部长方体槽内面都是YBCO陶瓷靶材(阴影部分所示)。12是冷却水箱。
图5是螺旋加热器示意图(上盖为透明方式,以便于表示内部基片台)。基片台放置于加热腔内部,图中13为加热腔外壳,屏蔽热量的辐射。
图6是去掉基片台后的螺旋加热器的示意图。第一加热片15和与其平行设置的第二加热片16内设置有螺旋发热丝。加热器右侧的开口是薄膜沉积区。基片公转到此区域时,被两侧靶溅射发射出的余辉沉积上双面形成薄膜。
图7是随着转动时间基片位置进行自转,与基片台的相对位置自转示意图。
图8是2英寸薄膜厚度分布示意图。YBCO薄膜约为850nm,中心区域1.8英寸范围内膜厚起伏小于3%,1.8英寸外两侧的区域由于被三角形挡片遮挡,膜厚为中心区域膜厚的约85%。
图9是自转良好的基片与不自转的基片Jc性能均匀性对比。可以看出自转良好的基片能够取得很高的面内均匀性。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310233800.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种刚柔混合型垂直轴风力机变桨距机构
- 下一篇:一种无铬兰白色钝化剂
- 同类专利
- 专利分类