[发明专利]一种昼气辉温度光度计及其探测气辉光谱强度和温度的方法有效
| 申请号: | 201310211299.0 | 申请日: | 2013-05-29 |
| 公开(公告)号: | CN103292902A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
| 发明(设计)人: | 郜海阳;卜令兵;黄兴友;王震;胡鹏宇;吕青璞 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学 |
| 主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01K11/00 |
| 代理公司: | 南京汇盛专利商标事务所(普通合伙) 32238 | 代理人: | 张立荣 |
| 地址: | 210019 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 昼气辉 温度 光度计 及其 探测 辉光 强度 方法 | ||
1.一种昼气辉温度光度计,其特征是:包括依次设置的四个部分:导光系统、望远系统、分光系统和成像系统,其中,导光系统由指向镜1和精密旋转平台2组成,指向镜1被固定在精密旋转平台2上;望远系统依次由光学窗口3、望远镜头4和可调节机械狭缝5组成;分光系统依次由平面反射镜A6、凹面反射镜A7、窄带干涉滤光片8、微角度步进电机9和阶梯光栅10构成,其中平面反射镜A6与竖直方向呈45°角放置,且平面反射镜A6与凹面反射镜A7相对放置,同时阶梯光栅10与凹面反射镜A7也相对放置;窄带干涉滤光片8与微角度步进电机9组成滤光单元固定在凹面反射镜A7与阶梯光栅10之间;成像系统由凹面反射镜B11、平面反射镜B12和面阵CCD探测器13组成,凹面反射镜B11与阶梯光栅10相对放置,凹面反射镜B11和平面反射镜B12也相对放置,平面反射镜B12与面阵CCD探测器13相对且等高放置。
2.根据权利要求1所述的昼气辉温度光度计,其特征是:还设置有外壳14,上述四个部分件被固定在外壳14中。
3.根据权利要求1所述昼气辉温度光度计,其特征是:从所述可调节机械狭缝5到凹面反射镜A7反射点的距离与从阶梯光栅10中心点到凹面反射镜A7反射点的距离相等,均为凹面反射镜A7的焦距;从凹面反射镜B11反射点到阶梯光栅10中心点的距离与从凹面反射镜B11反射点到面阵CCD探测器13的距离相等,均为凹面反射镜B11的焦距。
4.根据权利要求1或3所述昼气辉温度光度计,其特征是:所述阶梯光栅10的入射角为60°~70°。
5.根据权利要求1所述昼气辉温度光度计,其特征是:所述窄带干涉滤光片8安装微角度步进电机9输出轴上;窄带干涉滤光片8半高宽在0.2~0.8nm之间,有效通光孔径为48mm,最大微旋转角度为15°。
6.利用权利要求1所述昼气辉温度光度计探测气辉光谱强度和温度的方法,该方法包括以下步骤:
1)太阳方向的拍摄:
(a) 控制精密旋转平台2将指向镜1转动至太阳方向,调整窄带干涉滤光片8入射面法线与光轴平行,对面阵CCD探测器13选取曝光时间,进行一次拍摄,获取第一幅光谱图像;
(b) 指向镜1位置不变,通过微角度步进电机9将窄带干涉滤光片8的法线转动至与光轴成5°的夹角,保持面阵CCD探测器13的曝光时间与步骤1)(a)中的相同,进行第二次拍摄,获取第二幅光谱图像;随后分别将窄带干涉滤光片8的法线转动至与光轴成10°和15°的夹角,重复上述步骤,进行第三次和第四次拍摄,获取第三幅和第四幅光谱图像;
(c) 将四次拍摄的光谱图像中未感光的区域删除,将第一幅光谱图像末端与第二幅光谱图像前端拼接,第二幅与第三幅、第三幅与第四幅之间采用同样的拼接方式,最终将四副光谱图像融合为一幅代表太阳方向的完整光谱图;
2)天空背景方向的拍摄:
(a) 控制精密旋转平台2将指向镜1转动180°至太阳相反方向,调整窄带干涉滤光片8入射面法线与光轴平行,对面阵CCD探测器13选取曝光时间,进行一次拍摄,获取光谱图像;
(b) 控制指向镜1保持天空背景方向的位置不变,通过微角度步进电机9将窄带干涉滤光片8的法线转动至与光轴成5°的夹角,保持面阵CCD探测器13的曝光时间与步骤2)(a)中的相同,进行第二次拍摄,获取第二幅光谱图像;随后分别将窄带干涉滤光片8的法线转动至与光轴成10°和15°的夹角,重复上述步骤,进行第三次和第四次拍摄,获取第三幅和第四幅光谱图像;
(c) 将四次拍摄的光谱图像中未感光的区域删除,将第一幅光谱图像末端与第二幅光谱图像前端拼接,第二幅与第三幅、第三幅与第四幅之间采用同样的拼接方式,最终将四副光谱图像融合为一幅代表天空背景方向的完整光谱图;
3)将步骤1(c)和步骤2(c)的两幅完整光谱图再次进行归一化处理,随后做相减计算,得到的差值光谱图像即为昼气辉发射的光谱强度,再利用与HITRAN08分子光谱数据库的拟合反演得出昼气辉的温度。
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