[发明专利]一种InSAR水体和阴影区域自动提取和识别的方法有效

专利信息
申请号: 201310099529.9 申请日: 2013-03-26
公开(公告)号: CN103186900A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 罗华;雷斌;胡东辉;付琨;丁赤飚 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/46
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 高燕燕
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 insar 水体 阴影 区域 自动 提取 识别 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于InSAR数据处理领域,涉及一种InSAR水体和阴影区域自动提取和识别的方法。

背景技术

合成孔径雷达干涉测量(Interferometric Synthetic Aperture Radar,InSAR)综合合成孔径雷达成像原理和干涉测量技术,能够生成高精度的数字高程模型(Digital elevation model,DEM)。然而,由于SAR侧视成像的特点,水体表面近似为镜面,微波几乎没有后向散射;在地形的背坡,当坡度过大的时候会出现阴影,完全接收不到地物信息。因此,水体和阴影不仅在SAR图像中呈现出暗色调,而且在相干系数图中也表现为低相干区域。在最终生成的DEM中两者都表现为杂乱无章的毛刺状区域,严重影响DEM数据的使用,必须对其进行处理。由于水体和阴影区域具有不同的地形特点,所以首先要对两者进行区分。

现存的水体提取方法常用的阈值法会产生“椒盐现象”,而区域生长法(包括块搜索算法)难点在于确定种子点和阈值;单纯利用相干图进行分割,由于相干系数难以准确估计,导致其提取的水体和阴影模板难以定位边缘。

在SAR图像上区分水体和阴影,常常借助外部DEM,不仅配准比较难,而且对DEM的要求非常高,通常情况下难以满足,尤其是小面积的水体和阴影存在的情况,区分效果不好;而借助InSAR DEM的方法,首先要求对InSAR DEM进行水体和阴影的内插修复再形成坡度图判断(X.M.Yang and Z.Andy,Rapid extraction of water bodies from SAR imagery assisted by InSAR DEMs,Proceedings of SPIE,3503,73~78,1998.),这种内插方法对大区域的阴影修复效果非常差,而且还加入了人工识别的操作,这使得处理效率不高。

发明内容

为解决上述水体和阴影区域的提取和区分方面的问题,本发明提供了一种InSAR水体和阴影区域自动提取和识别的方法。

本发明提出的InSAR水体和阴影区域自动提取和识别的方法,包括以下步骤:

1)检测出斜距DEM中的待选粗差点;

2)根据待选粗差点位置利用SAR斜距幅度图和相干图对其进行筛选,求取筛选之后粗差点在SAR斜距幅度图上的灰度均值和标准差;

3)根据粗差点的均值和标准差设立阈值,在SAR斜距幅度图中进行区域生长,从而提取出水体和阴影的模板,然后运用形态学处理和连通区域统计去除极小的区域;

4)将模板覆盖在斜距DEM中,分别得到每个区域边缘信息,沿距离向计算区域每一对对应前后点的高程差h和斜距距离l,以及两者的比:h/l;

5)根据比值和雷达俯角β的关系对水体和阴影进行判断,识别出两者。

步骤2)中筛选粗差点采用以下方法:

①在幅度图中,计算以粗差点为中心的3×3模板下的灰度均值,若其大于图像灰度均值则剔除;

②在相干系数图中,相干系数值大于阈值的粗差点予以剔除,机载InSAR相干系数高,一般取阈值为0.9;

③计算每个粗差点N×N邻域内是否还有粗差点,如果没有则剔除此点,取N=3。

本发明的有益效果:

本发明利用InSAR的原始DEM、相干系数图和SAR幅度图选取种子点和阈值,实现水体阴影的自动提取;水体和阴影的识别方法不仅避免了人工的参与,而且相比外部数据的引入,其在小面积水体和阴影的区分方面具有很高的识别能力。

附图说明

图1为本发明实施InSAR水体和阴影区域自动提取和识别的方法流程图。

图2为SAR阴影和水体的成像几何关系图;

图3为SAR幅度图;

图4为图3对应的相干系数图;

图5为图3对应的DEM;

图6为图3右上角区域的水体和阴影区域DEM三维图;

图7为基于坡度的粗差点检测获取的粗差点模板;

图8为经过优化之后的粗差点模板;

图9为利用图8的粗差点在图3上区域生长并形态学处理之后得到的水体和阴影模板;

图10为图9中判断为水体的模板;

图11为图9中判断为阴影的模板;

图12为图9中判断为混合区域的模板;

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310099529.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top