[发明专利]一种用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法有效
申请号: | 201310078412.2 | 申请日: | 2013-03-12 |
公开(公告)号: | CN103178954A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 王赓;魏正军;陈文芬;郭莉;王金东;张智明;郭健平;刘颂豪 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | H04L9/08 | 分类号: | H04L9/08 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 510631 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 提高 相位 调制器 电压 测量 可信度 方法 | ||
1.一种用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.设置单个相位扫描点所需发送的光子脉冲数N;
S2.根据通信系统设置相关参数,包含平均每脉冲光子数μ、传输衰减率λ及探测器的平均探测效率η,分析计算每个光子从发送端到达探测器的概率x及探测器探测到光子的概率p;
S3.设置不完善干涉引起的误码率阈值QBERopt和半波电压测量可信度y;
S4.根据误码率阈值QBERopt计算出相位误差并计算出起始相位角
S5.根据下式计算出达到半波电压测量可信度y,且误码率阈值QBERopt时所需探测到的光子数目k,
S6.进行半波电压的扫描测量,验证探测器所探测的光子数是否达到探测光子数目k的探测要求;在半波电压扫描周期内,两探测器在各计数最高点其光子计数均在k以上,则满足探测要求,执行步骤S7;否则返回再次执行步骤S6;
S7.对两探测器计数最高点对应的加载电压进行差值计算,得到相位调制器半波电压。
2.根据权利要求1所述的用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法,其特征在于,所述步骤S1中光子脉冲数N大于1×103。
3.根据权利要求1所述的用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法,其特征在于,所述步骤S2中每个光子从发送端到达探测器的概率x为x=μη(1-λ)。
4.根据权利要求1或3所述的用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法,其特征在于,所述μ的范围为0-1,λ的范围为0-1,η的范围为0-1。
5.根据权利要求1所述的用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法,其特征在于,所述误码率阈值QBERopt为0-11.5%。
6.根据权利要求1所述的用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法,其特征在于,所述步骤S4中误码率阈值QBERopt与相位误差的关系式为:
7.根据权利要求1所述的用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法,其特征在于,所述探测器探测到光子的概率p是不同驱动电压加载情况下探测器探测到光子的概率:其中θ为加载驱动电压与计数最低点电压所对应相位的差值。
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