[发明专利]脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪及抗干扰性能的检测方法无效

专利信息
申请号: 201310072790.X 申请日: 2013-03-07
公开(公告)号: CN103149559A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 陈志斌;王伟明;马东玺;薛明晰;张超;刘先红;宋岩;侯章亚 申请(专利权)人: 中国人民解放军总装备部军械技术研究所
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 石家庄国域专利商标事务所有限公司 13112 代理人: 胡澎
地址: 050000 *** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 脉冲 激光 测距 抗干扰 性能 智能 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪,其特征是,包括有:

准直光学系统,分别与组合模拟光源和光电转换及处理电路相接,用于对向被测脉冲激光测距机发出的模拟测距回波和干扰回波和对由被测脉冲激光测距机发出的测距脉冲信号进行光电耦合及准直;

组合模拟光源,分别与光源驱动电路和所述准直光学系统的发射物镜相接,用于在所述光源驱动电路的控制下,生成并发送模拟测距回波和干扰回波;

光电转换及处理电路,分别与主控电路和所述准直光学系统的接收物镜相接,用于对被测脉冲激光测距机发出的测距脉冲信号进行光电转换和处理后,发送给所述主控电路;

光源驱动电路,分别与所述组合模拟光源和主控电路相接,用于在所述主控电路发出的控制指令的控制下,驱动所述组合模拟光源发出模拟测距回波和干扰回波;

主控电路,分别与所述光源驱动电路、所述光电转换及处理电路和人机交互界面相接,用于控制所述光源驱动电路驱动所述组合模拟光源发出与控制指令对应的模拟测距回波和干扰回波,并根据接收的测距脉冲信号计算出被测脉冲激光测距机的抗干扰性能;以及

人机交互界面,与所述主控电路相接,用于设定并向所述主控电路发送模拟距离指令和干扰模式选择指令,并从所述主控电路获取抗干扰性能检测数据。

2.根据权利要求1所述的脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪,其特征是,所述组合模拟光源包括设置在紫铜载体上的LD光源和LED光源;

所述LD光源包括中心波长1.06μm的LD、LD微透镜和LD微型衰减片;

所述LED光源包括中心波长1.06μm的LED、LED微透镜和LED微型衰减片。

3.根据权利要求1所述的脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪,其特征是,所述光源驱动电路包括LD驱动电路和LED驱动电路;所述LD驱动电路为电源电压固定型驱动电路,所述LED驱动电路为电源电压可变型驱动电路。

4.一种脉冲激光测距机抗干扰性能的检测方法,其特征是,包括以下步骤: 

a、将权利要求1所述的脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪中的准直光学系统的接收物镜对准被测脉冲激光测距机的发射镜头,将所述准直光学系统的发射物镜对准被测脉冲激光测距机的接收镜头;

b、通过所述脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪中的人机交互界面设定模拟距离和选择干扰模式,并被所述脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪中的主控电路读取和分析;

c、如果选择高重频干扰模式,通过所述人机交互界面选择干扰回波的频率和功率;如果选择偏差欺骗干扰模式,通过所述人机交互界面设定偏差距离和干扰回波功率;

d、操作被测脉冲激光测距机发射测距脉冲,所述准直光学系统接收该测距脉冲后通过所述脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪中的光电转换及处理电路进行光电转换和处理后发送给所述主控电路,所述主控电路根据设定的模拟距离在延时相应的时间之后,控制所述脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪中的光源驱动电路驱动所述脉冲激光测距机抗干扰性能智能检测仪中的组合模拟光源经由所述准直光学系统的发射物镜向被测脉冲激光测距机发射功率比可调的模拟测距回波和干扰回波;

e、逐步增大干扰回波的功率,由所述主控电路自动判断被测脉冲激光测距机于何时不能正确返回与延时时间相对应的测距信息,并自动记录此时刻相对应的模拟测距回波和干扰回波的功率,通过计算模拟测距回波的功率与干扰回波的功率之比,即可得出被测脉冲激光测距机在高重频干扰模式下或者在偏差欺骗干扰模式下的抗干扰性能参数。

5.根据权利要求4所述的检测方法,其特征是,所述模拟测距回波为LD光束,所述干扰回波为LED光束。

6.根据权利要求4所述的检测方法,其特征是,干扰回波一直以高重频方式进行发射,得到的检测结果即为负偏差高重频干扰模式下的抗干扰性能参数。

7.根据权利要求4所述的检测方法,其特征是,在欺骗偏差干扰模式下,先发射功率小于模拟测距回波功率的干扰回波,再延时发射模拟测距回波,得到的检测结果即为负偏差干扰模式下的抗干扰性能参数。

8.根据权利要求4所述的检测方法,其特征是,在欺骗偏差干扰模式下,先发射模拟测距回波,再延时发射功率大于模拟测距回波功率的干扰回波,得到的检测结果即为正偏差干扰模式下的抗干扰性能参数。

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