[发明专利]一种检测方法以及一种电子设备

权利要求书

1.一种检测方法，所述方法应用于第一电子设备，其特征在于，所述第一电子设备具有M个表面，M为大于等于4的整数，所述第一电子设备的内部设置有第一电容检测单元，并且所述第一电容检测单元与所述M个表面中每一个表面都连接，所述方法包括：

当所述第一电子设备与操作体脱离接触并且与第二电子设备接触的T1时刻，通过所述第一电容检测单元获得第一电容值；

基于对应关系，在所述M个表面中确定出与所述第一电容值对应的第一表面是与所述第二电子设备接触的表面；

其中，所述M个表面中每个表面上设置有不同面积的电容物质，当所述M个表面中第一表面上的第一电容物质与所述第二电子设备接触时，根据所述第一电容物质的第一面积，获得与所述第一电容物质的第一面积对应的所述第一电容值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述对应关系具体为电容值与接触表面的第一对应关系，当所述第一电容检测单元为总电容检测单元时，所述每个面上不同面积的电容物质都与所述总电容检测单元连接。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述对应关系为所述第一对应关系时，所述当所述第一电子设备与操作体脱离接触并且与第二电子设备接触的T1时刻，通过所述第一电容检测单元获得第一电容值，具体为：

当所述M个表面中第一表面上的第一电容物质与所述第二电子设备接触时，根据所述第一电容物质的第一面积，计算获得对应的电容值。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于对应关系，在所述M个表面中确定出与所述第一电容值对应的第一表面是与所述第二电子设备接触的表面，具体为：

基于所述第一对应关系，根据所述对应的电容值，确定所述第一表面是与所述第二电子设备接触的表面。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述对应关系具体为：电容检测单元与接触表面的第二对应关系，所述M个表面中的每个表面上设置有不同面积的电容物质，所述第一电容检测单元由M个第二电容检测单元构成，所述每个面上设置的不同面积的电容物质与所述M个第二电容检测单元中每一个第二电容检测单元一一对应连接。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述对应关系为所述第二对应关系时，所述当所述第一电子设备与操作体脱离接触并且与第二电子设备接触的T1时刻，通过所述第一电容检测单元获得第一电容值，具体还包括：

当所述第一表面上的电容物质与所述第二电子设备接触时，根据所述第一表面上的电容物质的第一面积，获得所述第一电容值；

根据所述第一电容值，在M个第二电容检测单元中确定出电容值发生变化的第三电容检测单元，所述第三电容检测单元是与所述第一表面上连接的电容检测单元。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于对应关系，在所述M个表面中确定出与所述第一电容值对应的第一表面是与所述第二电子设备接触的表面，具体为：

基于所述第二对应关系，根据所述第三电容检测单元，确定所述第一表面是与所述第二电子设备接触的表面。

8.如权利要求2或5所述的方法，其特征在于，当所述对应关系具体为电容值与接触表面的第一对应关系或者电容检测单元与接触表面的第二对应关系时，所述方法还包括：

当所述第一电子设备与所述操作体接触的T2时刻，通过所述第一电容检测单元获得至少两个第二电容值，其中，所述至少两个第二电容值中每一个第二电容值都不一样，其中，所述T1时刻与所述T2时刻不同；

基于所述对应关系，在所述M个表面中确定出与所述至少两个第二电容值对应的至少两个表面与所述操作体接触。