[发明专利]一种下转换发光薄膜转换效率测量方法

说明书

技术领域

本发明属于科学测试技术领域，涉及一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法。

背景技术

荧光发光技术通常利用材料受激发后的发光波长变化，比如LED光致发光材料及太阳能电池的上转换材料。在硅基紫外探测技术中，发光薄膜可以将高能量的光子转换为数量较多的低能量光子，因此可以将探测器响应拓宽到紫外波段。转换效率CE（Conversion Efficiency）是衡量上述转换发光过程的一个重要参数。

转换效率现有两种传统的测试方法，一种是通过测量量子效率的方法来计算转换效率，采用对每一个入射的光子所能产生和收集的电子数来计算，虽然不需要引入参数，但由于需要把反射损失而不能透射到硅片的光子、光电转化、电子和光子的传输效率的变化、转化电流的效率等考虑进去，计算过程复杂，且会带来很大的计算误差。另一种是采用光功率计直接接受荧光光子，虽然省去了光电转换这一环节，克服了第一种方法的缺点，但是，为了克服光功率计探测面积小而导致收集荧光不全的缺点，在计算总的发射能量时引入了一个修正因子以修正荧光收集不全的问题，把下转换发光薄膜发射出来的荧光近似认为是各向同性的球面波，忽略了荧光发射角的影响，而实际发出的荧光并非各向同性，所以，引入修正因子计算总的发射光能量给测试结果也会带来一定的误差。上述测量方法不能很好的实现荧光发光薄膜的转换效率的测量要求。

发明内容

针对现有测试技术的缺陷，本发明公开了一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法，本发明的目的是采用紫外可见分光光度计附件积分球进行测量，通过积分球来收集荧光，既省去了光电转换这一环节，也避免了在光功率计上，由于荧光发射角的存在导致荧光收集不全，从而对测试结果产生影响。

本发明为了达到以上目的，采用了以下技术方案：一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法，包括：

a. 采用荧光光谱仪，设定第一激发光为特定波长，测量下转换发光薄膜在一定发射波长范围内的荧光发射光谱，荧光发射光谱中波长之间的步长为a，λ₀和λ_n分别为荧光发射光谱波长范围内的最小和最大波长，得到荧光发射光谱波长范围内各发射波长下的发射光子数E(λ)；

b. 基于紫外分光光度计附件积分球的双光路探测模式，将入射光分成参考光和第二激发光，设定参考光能量和第二激发光能量的比例系数k的值，参考光和第二激发光分别直接从进光口（5）和（4）进入积分球，被探测器（6）接收，将参考光和信号光路进行调零定标，测得参考光能量E_ref；

c. 将带通滤光片（2）紧贴放置于积分球进光口（4）前，对带通滤光片的透过率进行定标，得到带通滤光片的透过率曲线T(λ)，在透过率曲线中，可透过光波段上波长之间的步长以及波长范围与荧光发射光谱相同；

d. 将下转换发光薄膜（1）紧贴放置于带通滤光片（2）前，将紫外透镜（3）放置于下转换发光薄膜（1）前，第二激发光经过紫外透镜（3）聚焦缩束后，照射到下转换发光薄膜（1）表面，发射光经带通滤光片（2）滤波后进入积分球，被探测器（6）接收，测得发射光能量E_Emi；