[发明专利]一种下转换发光薄膜转换效率测量方法

权利要求书

1.一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法，其特征在于，包括下列步骤：

a. 采用荧光光谱仪，设定第一激发光为特定波长，测量所述下转换发光薄膜在一定发射波长范围内的荧光发射光谱，所述荧光发射光谱中波长之间的步长为a，λ₀和λ_n分别为所述荧光发射光谱波长范围内的最小和最大波长，得到所述荧光发射光谱波长范围内各发射波长下的发射光子数E(λ)；

b. 基于紫外分光光度计附件积分球的双光路探测模式，将入射光分成参考光和第二激发光，设定所述参考光能量和所述第二激发光能量的比例系数k的值，所述参考光和第二激发光分别直接从进光口（5）和（4）进入所述积分球，被探测器（6）接收，将所述参考光和信号光路进行调零定标，测得所述参考光能量E_ref；

c. 将所述带通滤光片（2）紧贴放置于所述积分球进光口（4）前，对所述带通滤光片的透过率进行定标，得到所述带通滤光片的透过率曲线T(λ)，所述透过率曲线中，可透过光波段上波长之间的步长以及波长范围与所述荧光发射光谱相同；

d. 将所述下转换发光薄膜（1）紧贴放置于所述带通滤光片（2）前，将紫外透镜（3）放置于所述下转换发光薄膜（1）前，所述第二激发光经过所述紫外透镜（3）聚焦缩束后，照射到所述下转换发光薄膜（1）表面，发射光经所述带通滤光片（2）滤波后进入所述积分球，被所述探测器（6）接收，测得发射光能量E_Emi；

e. 基于转换效率CE的计算公式，得到所述特定波长光照射下发光薄膜的所述转换效率，即CE=EEmik×Eref×λinΣj=0nE(λj)T(λj)Σi=0nE(λi)λi]]>，其中，n=λn-λ0a]]>。

2.根据权利要求1所述的下转换发光薄膜转换效率的测量方法，其特征在于，在步骤（a）中：所述特定波长范围为190-400nm。

3.根据权利要求1所述的下转换发光薄膜转换效率的测量方法，其特征在于，在步骤（b）中：所述入射光的波长与所述第一激发光的波长相同。