[发明专利]一种PIN二极管的电极的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310064547.3 申请日: 2013-02-28
公开(公告)号: CN103236436A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 童小春 申请(专利权)人: 溧阳市宏达电机有限公司
主分类号: H01L29/41 分类号: H01L29/41;H01L29/868;H01L29/36
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 黄明哲
地址: 213300 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 pin 二极管 电极 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明属于二极管技术领域,特别涉及一种电力半导体逆变器装置的关键器件PIN二极管的电极的制造方法。 

背景技术

目前电力半导体逆变器装置用的关键器件一般采用二极管,具体来分,有PN型和PIN型。 

逆变器装置的负载大多是感应式负载的电动机。在工作过程中,电流在感应式负载和支架元件的闭合电路之间在逆变器装置中,通常以IGBT作为开关进行工作,通过重复截止状态和导通状态来控制电能。在IGBT导通的状态下,PIN二极管中不流过电流,PIN二极管处于截止状态。另一方面,在IGBT截止的状态下,PIN二极管中流过电流,PIN二极管处于导通状态。为了提高逆变器装置的开关特性,要求尽快使PIN二极管从导通状态转变到截止状态。为此,需要在PIN二极管中缩短寿命。若缩短寿命则存在使导通电阻变高这一问题。因此,为了既确保PIN二极管的开关特性又降低导通电阻,就要求高精度地控制PIN二极管的寿命。 

PIN二极管的常规结构为:本征半导体层夹在p型和n型半导体层之间,构成三文治式的横向三层结构。这种常规的横向PIN二极管在小型化方面受到限制,因为在横向形成的PIN二极管的情况下,降低特征尺寸导致p层、i层和n层之间的结面积受到限制。中国已授 权专利CN100583460C公开了一种PIN二极管,其采用的结构在一定程度上能够改善降低特征尺寸而限制的结面积。但是该专利公开的PIN二极管的灵敏度还是不足。 

而且现有技术中PIN二极管的电极一般都仅在P掺杂层和N掺杂层的部分表面上形成,这种结构在封装时,往往仅能以一种方式放置在封装体中,从而限制了封装的便利性。 

发明内容:

本发明提出了一种PIN二极管的电极的制造方法,采用本发明提出的PIN二极管的电极制造方法制得的PIN二极管,能够方便的应用于各种封装体中。 

本发明提出的PIN二极管的电极制造方法包括如下步骤: 

(1)准备衬底,对该衬底进行高浓度掺杂,以形成N+掺杂区; 

(2)在N+掺杂区的表面上旋涂光刻胶,光刻后对其进行干法刻蚀,以形成倒T型的N+掺杂层; 

(3)在所述N+掺杂层上外延生长N-掺杂层; 

(4)在N-掺杂层的两侧横向表面上形成绝缘层; 

(5)在所述N-掺杂层上外延生长本征半导体层; 

(6)在所述本征半导体层上外延生长P-掺杂层; 

(7)在所述P-掺杂层上外延生长P+掺杂层106; 

(8)除去衬底,然后在保留绝缘层的前提下,对N+掺杂层和N-掺杂层的侧面进行蚀刻,使得N+掺杂层和N-掺杂层的侧面与P+掺杂层的侧面对齐,以制得PIN二极管管芯; 

(9)在PIN二极管管芯的所有四周表面溅射金属层,以P电极和N电极; 

(10)对完成电极制作的PIN二极管的侧面进行平坦化,以去除多余的绝缘层。 

其中,形成N+掺杂层、N-掺杂层、本征半导体层、P-掺杂层以及P+掺杂层的外延材料可为硅或锗。其中P电极和N电极可以采用与半导体能形成良好欧姆接触的金属材料构成,这种材料例如Al、Mo、Ta、Ti、W等金属或其合金。 

本发明提出的PIN二极管的电极制造方法包括先制备具有的P+P-IN-N+结构(I即为本征半导体层)的PIN二极管,其能够降低导通压降。而后制造的P电极形成在PIN二极管的P+掺杂层上方的整个外围表面,N电极形成在所述PIN二极管的N+掺杂层与N-掺杂层下方的整个外围表面,因此在封装的过程中,PIN二极管可以以各种放置方式而置入到封装体中,这给封装带来极大的便利。 

附图说明

图1-8为本发明提出的PIN二极管电极制造方法的流程示意图。 

具体实施方式:

本发明提出的PIN二极管的电极制造方法包括如下步骤: 

如图1-7所示,本发明提出的鳍型PIN二极管的制造方法包括步骤: 

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