[发明专利]一种轴承密封状态测量装置及其方法有效
申请号: | 201310063924.1 | 申请日: | 2013-02-28 |
公开(公告)号: | CN103148987B | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | 吕宏亮;邢传友;李连鹏;张文权;于丽艳 | 申请(专利权)人: | 贵州虹智精密轴承有限责任公司 |
主分类号: | G01M3/00 | 分类号: | G01M3/00;G01B5/28;G01B5/24;G01B5/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 谷庆红 |
地址: | 561000 贵州省安顺*** | 国省代码: | 贵州;52 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 轴承 密封 状态 测量 装置 及其 方法 | ||
技术领域
本发明属于检测装置技术领域,具体是涉及一种轴承密封性能测量装置及其方法。
背景技术
众所周知,轴承是当代机械设备中一种举足轻重的零部件,随着轴承使用工况的变化,对轴承密封性能的要求越来越高,密封圈作为密封式轴承的关键零部件,其压入轴承后的状态对密封式轴承整体的密封性能起着重要的作用。目前许多轴承厂家虽然知道这一点,但针对密封圈检测方法、手段上仍较为匮乏,仅能对密封圈的外观(目视)和基本尺寸(如内、外径,厚度)进行检测,密封圈压入轴承且状态无法保证,最终轴承在客户使用时出现密封不良,轴承失效等现象。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供了一种轴承密封状态测量装置及其方法。
本发明是通过如下技术方案予以实现的。
一种轴承密封状态测量装置,包括测量台座及置于测量台座上的可调节磁力装夹表架,所述可调节磁力装夹表架上位于轴承上方设有测量仪表,所述测量台座平面固定有直角挡尺和用于测量的标准块。
所述测量仪表表针指向轴承密封件表面。
所述直角挡尺通过螺钉紧固在测量台座上。
所述标准块安装在测量台座上,用于测量出轴承A点和B点的尺寸。
作为本发明的另一目的,提供了一种采用上述装置测量轴承密封状态的方法,其具体方法步骤为:
a、将轴承紧靠直角挡尺的直角处,通过可调节磁力装夹表架调整测量表表针指向密封件的B点;
b、通过标准块在可调节磁力装夹表架固定的情况下稳定使密封件由B点到A点;
c、通过可调节磁力装夹表架调整测量仪表的高度与位置,使测量仪表上的表针能良好的接触到轴承端面与密封件表面;
d、从测量表中读出测量数值。
本发明的有益效果是:
本发明通过设置于可调节磁力装夹表架上的测量仪表,配合标准块进行调节测量,通过测量仪表读数,可检测轴承密封件压入轴承后的平面度、倾斜度及压入量,确保轴承启动扭矩的控制,减少了轴承温度的变化,极大的提高了轴承密封性能及使用寿命。本发明结构简单,检测及操作方便快捷,可在轴承密封状态检测技术领域广泛推广应用。
附图说明
图1为本发明结构示意图。
图中:1-可调节磁力装夹表架,2-测量台座,3-直角挡尺,4-测量表,5-标准块。
具体实施方式
下面结合附图进一步描述本发明的技术方案,但要求保护的范围并不局限于所述。
如图1所示,一种轴承密封状态测量装置及其方法,包括测量台座2及置于测量台座2上的可调节磁力装夹表架1,所述可调节磁力装夹表架1上位于轴承上方设有测量仪表4,所述测量台座2平面固定有直角挡尺3和用于测量的标准块5。
所述测量仪表4表针指向轴承密封件表面。
所述直角挡尺3通过螺钉紧固在测量台座2上。
所述标准块5置于测量台座2上,用于测量出轴承A点和B点的尺寸。
如图1所示,作为本发明的另一目的,提供了一种采用上述装置测量轴承密封状态的方法,其具体方法步骤为:
a、将轴承紧靠直角挡尺3的直角处,通过可调节磁力装夹表架1调整测量表4表针指向密封件的B点;
b、通过标准块5在可调节磁力装夹表架1固定的情况下稳定使密封件由B点到A点;
c、通过可调节磁力装夹表架1调整测量仪表4的高度与位置,使测量仪表4上的表针能良好的接触到轴承端面与密封件表面;
d、从测量表4中读出测量数值。在使用过程中可直接在测量表4读数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贵州虹智精密轴承有限责任公司,未经贵州虹智精密轴承有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310063924.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。