[发明专利]一种磁瓦罩壳组件内径高度快速检测装置有效

专利信息
申请号: 201310027320.1 申请日: 2013-01-24
公开(公告)号: CN103075988A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 陈守亮;杨定伟;陈华轩;王卫林;张乾峰;刘庆威;顾石成 申请(专利权)人: 苏州凯蒂亚半导体制造设备有限公司
主分类号: G01B21/14 分类号: G01B21/14
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 马明渡
地址: 215121 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 罩壳 组件 内径 高度 快速 检测 装置
【说明书】:

技术领域

发明属于自动化机械设备制造技术领域,为一种检测装置,具体涉及一种磁瓦罩壳组件内径高度快速检测装置。

背景技术

参见图1-3,磁瓦6是一种主要应用在永磁电机上的磁铁,呈弧形的瓦片状,具有内弧面和外弧面。在电机制造时,将两个磁瓦6内弧面相对装设在圆筒状罩壳17上后形成一体的磁瓦罩壳组件10,该组件是电机零部件之一。两个磁瓦6的内弧面相对形成一圆柱形,该圆柱与圆筒状的罩壳17同轴。

在磁瓦6安装在罩壳17上后需要对磁瓦罩壳组件10进行检测,主要检测两个磁瓦6内弧面所在圆柱形的直径(即内径d),以及检测磁瓦6下缘与罩壳17下缘之间的高度h,以综合判断磁瓦6的安装位置是否正确。现有技术中,由工人对磁瓦罩壳组件10进行检测,这既难以控制检测的精度,效率又低,不能满足自动化机械设备制造对速度和精确度的高要求。

发明内容

本发明提供一种磁瓦罩壳组件内径高度快速检测装置,快速高效,精度高。

为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:一种磁瓦罩壳组件内径高度快速检测装置,包括底座及设于该底座上的内径检测部和接触式位移传感器;

所述内径检测部下端固定连接在底座上,上端设有内径检测头,该内径检测头具有刚性的圆形外缘,该圆形外缘的直径等于磁瓦罩壳组件中两个磁瓦内弧面所在圆柱形的直径;

所述接触式位移传感器的感测头当接触到磁瓦罩壳组件上的磁瓦的下缘时能够感测到其在竖直方向的位移,该感测头位于内径检测头的旁侧,并对应于磁瓦罩壳组件中的磁瓦;所述感测头在竖直方向上位于内径检测头的圆形外缘的下方,或者,所述感测头与内径检测头的圆形外缘位于同一水平面;

所述磁瓦罩壳组件上设有卡脚,在该磁瓦罩壳组件相对于内径检测头在竖直方向运动时进行限位,该卡脚与两磁瓦的下缘之间间隔距离。

上述技术方案中的有关内容解释如下:

1、上述方案中,所述检测装置还包括一弹性件,所述内径检测部的下端经所述弹性件与底座弹性连接,所述弹性件作用于竖直方向。

2、上述方案中,所述接触式位移传感器数量为两个,以内径检测头为基准对称设于该内径检测头的两侧。

3、上述方案中,所述检测装置还包括位置传感器,用以检测磁瓦罩壳组件与内径检测头的相对位置。

4、上述方案中,所述内径检测部配套设有若干所述内径检测头,这若干内径检测头均与内径检测部可拆卸的连接。

5、上述方案中,所述检测装置还包括一传动装置,该传动装置包括由上向下依次设置的接触销、连接销和垫块,其中接触销和连接销均经一直线轴承与底座在竖直方向滑动连接,所述接触销上端在竖直方向上位于内径检测头的圆形外缘的下方,或者,所述接触销上端与内径检测头的圆形外缘位于同一水平面;接触销下端与连接销上端接触,连接销下端与垫块上端在竖直方向定位连接,垫块下端与接触式位移传感器的感测头在竖直方向定位连接。

6、上述方案中,所述垫块具有一方形本体,该本体的上端和下端均开设一卡槽,所述连接销下端卡入本体上端的卡槽中,所述接触式位移传感器的感测头卡入本体下端的卡槽中。

本发明工作原理是:对磁瓦罩壳组件检测时,控制该组件的轴向沿竖直方向、组件的卡脚位于两磁瓦的上方,将磁瓦罩壳组件竖直向下移动至检测装置。检测装置上的接触式位移传感器的感测头在竖直方向上位于内径检测头的圆形外缘的下方或位于同一水平面,磁瓦罩壳组件的两个磁瓦内弧面会先接触到内径检测头的圆形外缘,当磁瓦罩壳组件能够继续向下移动时,说明两个磁瓦内弧面所在圆柱形的直径不小于内径检测头的圆形外缘的直径,此即对磁瓦罩壳组件两磁瓦内弧面所在圆柱形内径的检测。未通过内径检测的磁瓦罩壳组件被放入废料区,通过内径检测的磁瓦罩壳组件被控制继续竖直向下移动。

自动控制系统中预设有一标准值范围,该标准值范围是通过一标准工件测量得到的。在磁瓦罩壳组件通过了内径检测后继续向下移动时,磁瓦的下缘面会接触到接触式位移传感器的感测头并带动感测头一起向下移动,直至移动至磁瓦罩壳组件上的卡脚卡住内径检测头进行限位,下移运动停止,感测头感测到的这一段下移位移量传入自动控制系统,与标准工件的标准值进行比较,间接判断磁瓦罩壳组件中的磁瓦下缘与罩壳下缘之间的高度与标准工件相比是否在可接受误差范围之内,即完成了组件高度的检测,检测合格的组件被放入合格区,不合格组件被放入废料区。

由于上述技术方案运用,本发明与现有技术相比具有下列优点:

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