[发明专利]一种在分光光度计上实现测试样品的色坐标装置有效
申请号: | 201310012317.2 | 申请日: | 2013-01-14 |
公开(公告)号: | CN103926003B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 陈圣杰 | 申请(专利权)人: | 上海奥析科学仪器有限公司 |
主分类号: | G01J3/46 | 分类号: | G01J3/46 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200233 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分光 光度计 实现 测试 样品 坐标 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种在分光光度计上实现测试样品的色坐标装置,特别涉及一种利用专用装置和特定的软件在分光光度计上实现测试样品的色坐标装置。
背景技术
现有技术中,如专利ZL200610006486.5公开了一种反射率测定装置,即使被载置于微芯片上的被测定部位(试纸)被透明构件所覆盖,而被测定部位上的检体量是μl量级的微量的情况下,仍可获得良好的检出灵敏度。该反射率测定装置,备将在特定波长具有指向性的光予以出射的光放出部与受光部,在微芯片的被测定部位上照射来自光放出部的光,以受光部来接受来自被测定部位的反射光,以测定被测定部位的反射率,其特征为,是将微芯片的被测定部位以透明构件覆盖的构造,即,光放出部配置在被测定部位的正上方,来自光放出部的照射区域被收敛在被测定部位内,在包含光放出部的发光中心点而垂直于微芯片的假想面上,对于被测定部位的照射区域的端部上的法线,令反射光所形成的角度为θ,令被测定部位正上方所配置的光放出部所放射出来的光的扩张角为α,令透明构件的折射率为n时,受光部配置在满足(1/2)α≤θ≤sin-1(1/n)的关系的角度范围θ内。该反射率测定装置原理复杂,机械结构复杂,不能实现大量测试样品,测部件反射率精度不高,测量很不方便。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种结构简单、使用方便,且能实现大量测试样品,测部件反射率精度高,测量方便的在分光光度计上实现测试样品的色坐标装置。
为了实现上述目的,本发明的技术方案如下:
一种在分光光度计上实现测试样品的色坐标装置,包括试样座部件与测反射部件,所述试样座部件与测反射部件连接;所述试样座部件包括导向件,导向件上设有可以沿导向件滑动的定位座,导向件设置在安装板上,定位座上设有弹簧片,定位座上设有第一螺钉;所述测反射部件包括底板,底板上设有面板,面板上设有透射镜与反射镜,底板上设有用于盖住透射镜与反射镜的避光罩。
进一步地,所述第一螺钉为滚花螺钉。
进一步地,所述弹簧片与定位座通过第二螺钉连接。
进一步地,所述第二螺钉为十字槽盘头螺钉。
进一步地,所述安装板与导向件通过第三螺钉连接。
进一步地,所述第三螺钉为十字槽沉头螺钉。
进一步地,所述透射镜与面板通过第四螺钉连接。
进一步地,所述第四螺钉为十字槽盘头螺钉。
进一步地,所述避光罩与底板通过第五螺钉连接。
进一步地,所述第五螺钉为三组合盘头螺钉。
进一步地,所述面板与底板通过第六螺钉连接。
进一步地,所述第六螺钉为十字槽盘头螺钉。
采用上述技术方案的在分光光度计上实现测试样品的色坐标装置,由于所述试样座部件与测反射部件连接;所述试样座部件包括导向件,导向件上设有可以沿导向件滑动的定位座,导向件设置在安装板上,定位座上设有弹簧片,定位座上设有第一螺钉;所述测反射部件包括底板,底板上设有面板,面板上设有透射镜与反射镜,底板上设有用于盖住透射镜与反射镜的避光罩,所以将待测样品放置在定位座上,通过导向件可以使样品移动,能测试各种样品;通过底板连接面板,将待测样品放置在透射镜与反射镜之间,通过避光罩盖住透射镜与反射镜,使待测样品测量反射的精确度更加高。由于所述第一螺钉为滚花螺钉,所以连接强度高,连接牢固。由于所述弹簧片与定位座通过第二螺钉连接,所以连接强度高,连接牢固。由于所述安装板与导向件通过第三螺钉连接,所以连接强度高,连接牢固。由于所述透射镜与面板通过第四螺钉连接,所以连接强度高,连接牢固。由于所述避光罩与底板通过第五螺钉连接,所以连接强度高,连接牢固。由于所述面板与底板通过第六螺钉连接,所以连接强度高,连接牢固,维修方便。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明在分光光度计上实现测试样品的色坐标装置的结构示意图。
图2为本发明所述试样座部件的结构示意图。
图3为本发明所述测反射部件的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
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