[发明专利]光量测定装置

权利要求书

1.一种光量测定装置，其特征在于：

具备测定台、探针以及光接收部，

所述测定台用于承载能以放射状射出光束的半导体发光元件，

所述探针接触所述半导体发光元件的端子并向其供电，使得所述半导体发光元件发光，

所述光接收部接收所述半导体发光元件射出的光束并测定其光量，

所述探针可以向着靠近、远离所述测定台的方向移动，

当所述探针向着靠近所述测定台的方向移动时，所述探针接触所述端子，

在所述光接收部中的测定，是在相对于使所述探针向着所述测定台移动的移动量，所述端子对所述探针的反作用达到一定的状态的区域内进行。

2.根据权利要求1所述的光量测定装置，其特征在于：

所述探针具有柔韧性。

3.根据权利要求1或2所述的光量测定装置，其特征在于：

所述探针在其前端侧具备探针前端部以及探针本体部，所述探针前端部朝向比所述探针本体部更靠近所述测定台的方向弯曲而成，所述探针本体部连着所述探针前端部而成且大致水平设置，

4.根据权利要求3所述的光量测定装置，其特征在于：

所述探针具有保持部，设置在保持所述探针的部件侧，

所述保持部朝向比所述探针本体部更远离所述测定台的方向弯折而成。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光量测定装置，其特征在于：

所述测定台具有高反射率特性的平面，所述半导体发光元件被承载于具有高反射率特性的所述平面上。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的光量测定装置，其特征在于：

所述探针局部具有脆性，所述探针整体具有柔韧性。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的光量测定装置，其特征在于：

在所述探针接触所述半导体发光元件并结束测定后，且从所述半导体发光元件分离之前，进一步进行按压动作。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的光量测定装置，其特征在于：

具备多个探针，

还具备接触位置调整部，其用于调整每个所述探针的前端部上的、与所述半导体发光元件接触的高度位置相互之间错位量使其包含在规定范围内。