[发明专利]用于检查有价文件的传感器有效
申请号: | 201280052223.1 | 申请日: | 2012-10-31 |
公开(公告)号: | CN103907000A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | W.德肯巴赫;A.菲利普;H-P.厄尔 | 申请(专利权)人: | 德国捷德有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/36;G01J3/51;G01J3/02;G07D7/12 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 曲莹 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检查 文件 传感器 | ||
1.一种用于检查有价文件(1)的传感器,所述有价文件存在于所述传感器的测量平面中,为了检查有价文件,所述传感器包括:
-至少一个光源(18),经由所述至少一个光源,可在测量平面区域中照明存在于所述测量平面(E)中的有价文件(1);
-检测装置(10),具有并排布置的至少两个光电检测器(16),所述至少两个光电检测器用于对检测光进行检测,在检查有价文件(1)时,所述检测光因光源(18)的照明而从位于测量平面(E)的检测区域(3)中的有价文件发出,其中,有价文件的检测光可以在至少两个不同光谱区域中由光电检测器(16)检测;
-所述光电检测器(16)共用的聚集光学系统(25),经由所述聚集光学系统,可将由检测区域(3)中的有价文件发射的检测光聚集并准直为光束(L),其中,沿检测射线路径的光轴(a)观看,所述光电检测器(16)布置在所述聚集光学系统(25)之后,
其特征在于,
-所述光电检测器(16)均具有与其相关联的检测器透镜(26),沿所述检测射线路径的光轴(a)观看,所述检测器透镜布置在所述聚集光学系统(25)之后、相应光电检测器(16)之前;以及
-所述检测器透镜并排布置成每个检测器透镜(26)接收由所述聚集光学系统(25)准直的所述光束(L)的部分光束(L’),并将所述部分光束引导至相应光电检测器(16),使得其中检测光可以由所述光电检测器(16)同时检测的检测区域(3)对于不同光电检测器基本上一致。
2.如权利要求1所述的传感器,其特征在于,所述聚集光学系统(25)布置成由所述检测区域(3)的每个检测地点(31,32)发射的有价文件检测光通过所述聚集光学系统(25)准直为由相互平行的光线构成的光束(L)。
3.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述聚集光学系统(25)和所述检测器透镜(26)关于所述测量平面(E)以及关于彼此布置成来自所述检测区域(3)的相同检测地点(31,32)的部分光束(L’)相应地本身是平行的,并在所述聚集光学系统(25)和所述检测器透镜(26)之间的部分中相互平行地延伸。
4.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述检测器透镜(26)的光轴(b)相应地布置在所述检测射线路径的光轴(a)外部,使得准直光束(L)在横向方向上由所述检测器透镜(26)分为至少两个部分光束(L’),其中,所述检测器透镜(26)的光轴(b)优选地与所述检测射线路径的光轴(a)相距相同的横向距离。
5.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述聚集光学系统(25)和所述检测器透镜(26)沿所述检测射线路径的光轴(a)以小间隔布置成避免渐晕误差。
6.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述聚集光学系统(25)、所述检测器透镜(26)和所述光电检测器(16)关于所述测量平面(E)布置成所述检测区域(3)锐度成像在所述光电检测器(16)上,优选成像在每个光电检测器(16)上。
7.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述光电检测器(16)布置在与相应光电检测器相关联的检测透镜(26)的光轴(b)上。
8.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述传感器构造成检查有价文件(1),为了检查有价文件,有价文件沿传输方向(x)传输通过所述传感器,沿所述传输方向(x)观看,所述检测装置(10)的至少两个光电检测器(16)垂直于有价文件的传输方向彼此偏移地布置,但是位于相同的位置(x0)处。
9.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述光电检测器(16)由所述传感器控制成所述光电检测器彼此时间同步地检测所述检测区域(3)的检测光。
10.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述光电检测器(16)构造成检测所述有价文件的发光的不同光谱部分。
11.如上述权利要求任一项所述的传感器,其特征在于,所述光电检测器(16)具有与其相关联的不同光谱滤波器(17),所述光谱滤波器相应地布置在所述光电检测器(16)的单独检测射线路径中。
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