[发明专利]修正PS-OCT的测量数据的程序及安装该程序的PS-OCT系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种修正基于光学相干层析成像技术(OCT:Optical coherence tomography)的测量数据来进行高精度化的程序及安装该程序的OCT系统。特别地，本发明涉及一种修正偏振敏感型光学相干层析成像装置(也称为偏振敏感光学图像测量装置、偏振敏感型OCT或偏振光学干涉断层仪等，由于通常称为PS-OCT(Polarization-Sensitive OCT)，所以以下称作“PS-OCT”。)的测量数据来进行高精度化的程序及安装该程序的PS-OCT系统。

背景技术

以往，为了以非破坏方式、高分辨率获取物体的内部信息，即后方散射、反射率分布及折射率分布的微分构造，会使用OCT。

作为用于医疗领域等的非破坏式断层测量技术之一，有光学断层图像化法“光学相干层析成像技术”(OCT)(参照专利文献1)。OCT将光用作测量探头，因此具有能够测量被测量物体的反射率分布、折射率分布、分光信息、偏振信息(双折射率分布)等的优点。

基本的OCT43以迈克尔逊干涉仪为基础，用图8对其原理进行说明。从光源44射出的光通过准直透镜45被平行化后，被分束器46分离为参照光和物体光。物体光由物体臂内的物镜47会聚在被测量物体48上，在此被散射、反射后再次返回物镜47、分束器46。

而参照光通过参照臂内的物镜49后被参照镜50反射，再次通过物镜49返回分束器46。这样返回了分束器46的物体光和参照光与物体光一起向会聚透镜51入射，被会聚在光检测器52(光电二极管等)上。

OCT的光源44使用低时间相干性光(不同时刻从光源发出的光之间非常难以干涉的光)的光源。以低时间相干性光为光源的迈克尔逊型的干涉仪中，干涉信号仅在参照臂和物体臂的距离大致相等时出现。其结果是在改变参照臂和物体臂的光程差(τ)的同时由光检测器52测量干涉信号的强度时，可以得到对应于光程差的干涉信号(干涉图)。

该干涉图的形状表示被测量物体48的纵深方向的反射率分布，能够通过一维的轴方向扫描获得被测量物体48的纵深方向的构造。这样，OCT43中能够通过光程扫描测量被测量物体48的纵深方向的构造。

在这样的轴方向(A方向)的扫描以外附加横方向(B方向)的机械性扫描(B扫描)进行二维的扫描，由此获得被测量物体的二维断面图像。作为进行这种横方向的扫描的扫描装置，使用了直接移动被测量物体的结构、物体固定而移动物镜的结构、被测量物体和物镜都固定而旋转设在物镜的光瞳面附近的电流镜的角度的结构等。

以上的基本型OCT经过发展，有了扫描光源的波长来获得光谱干涉信号的波长扫描型OCT(Swept Source OCT，简称“SS-OCT”。)和使用分光器来获得光谱信号的光谱域OCT。作为后者，有傅立叶域OCT(Fourier Domain OCT，简称“FD-OCT”。参照专利文献2)以及PS-OCT(参照专利文献3)。

波长扫描型OCT通过高速波长扫描激光器改变光源的波长，使用与光谱信号同步获取的光源扫描信号将干涉信号重新排列并施加信号处理，由此获得3维光学断层图像。还有，作为改变光源波长的单元而利用了单色仪，但也可以作为波长扫描型OCT来使用。

傅立叶域OCT的特征是用光谱仪(光谱分光器)获取来自被测量物体的反射光的波长光谱，通过对该光谱强度分布进行傅立叶变换，提取实空间(OCT信号空间)上的信号，该傅立叶域OCT不需要进行纵深方向的扫描，可以通过进行x轴方向的扫描来测量被测量物体的断面构造。

PS-OCT是一种在B-扫描的同时连续调制直线偏振后的光束的偏振状态，获取试样(被检物体)具备的偏振信息，能够测量试样的更细微的构造及折射率的各向异性的光学相干断层扫描装置。

进一步详细来说，PS-OCT与傅立叶域OCT相同，用光谱分光器获取来自被测量物体的反射光的波长光谱，但是将入射光及参照光分别通过1/2波长板、1/4波长板等作为水平直线偏振光、垂直直线偏振光、45°直线偏振光、圆偏振光，将来自被测量物体的反射光和参照光叠加通过1/2波长板、1/4波长板等，例如仅使水平偏振光成分向光谱分光器入射并干涉，仅将物体光中具备特定偏振光状态的成分取出并进行傅立叶变换。该PS-OCT也不需要进行纵深方向的扫描。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2002-310897号公报

专利文献2：日本特开平11-325849号公报

专利文献3：日本特开2004-028970号公报

发明内容