[实用新型]散射系数测量系统有效
申请号: | 201220682002.X | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN203025084U | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 黄永忠;何刘;赵书阁;王德友 | 申请(专利权)人: | 成都莱普科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/17 |
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地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 散射 系数 测量 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及光学晶体材料的散射系数和吸收系数测量领域,尤其涉及一种散射系数测量系统。
背景技术
现在有很多测量散射系数的方法,但所使用的原理都基本相同,不同之处在于测量所采用的方法都有所不同。举例如《中华人民共和国国家标准UDC621.383.032》使用632.8nm的波长透过激光棒后入射到积分球,其具体测量原理及方法如下:
a)打开632.8nm波长的激光光源,预热15~30min。
b)待光源稳定后,不放被测激光棒,测量积分球内的散射系数,以校准测量系统的稳定性。一般空气的散射系数是0.01%·cm-1,若测量系统达不到这个数量级,则须重新调试系统,以免产生误差。
c)将被测激光棒先放在夹具上,调节光栏的孔径,使光源光束直径等于被测激光棒直径的90%。然后将积分球推进使被测激光棒在球内的中间部分,调试使被测激光棒轴、光束和积分球开口处中心同轴。注:被测激光棒放在夹具上,不允许有应力存在,否则将使测试结果失真。
d)将反射光锥插入积分球的光出射口,测量出光强IC。
e)去掉反射光锥,测量出光强II,在远处应用光吸收材料将透射光去掉,不允许有光反射回积分球内。
f)将激光棒推出积分球,使棒的前端在积分球入口处,测得前向散射光强I2。
g)激光棒的侧向散射光强Ih。
h)将光强IC和散射光强Ih代入公式,计算得到被测激光棒的侧向散射系数-h。
通过国准UDC 621.383.032的测量方法,我们发现当前散射系数的测量方法具有如下不方便性和缺点:
a)只有一种632.8nm波长的He-Ne激光器。
b)没有红光光路批示,无法准确调整光路并且调整光路步骤比较麻烦。
c)将激光棒样品放在积分球外面,经过样品沿各个方向散射或反射后,能量损失严重,无法准确得到测量结果。
d)测量仪器使用数显仪器,并要经过公式计算后方可得到测量结果。即测量麻烦,无法直接得到测量结果。
e)无电器与软件控制方面方法。
f)激光无法按频率发出,即无法得到即时能量,故测量结果不很准确。
实用新型内容
针对上述现有技术存在的问题,本实用新型目的在于提供一种散射系数测量系统,克服了现有技术中测量的不方便性和缺点。
本实用新型的技术方案是:一种散射系数测量系统,包括光学平台,所述光学平台上设置有激光器、可变小孔光阑、积分球、透射光探头和散射光探头,所述积分球的入口光阑和出口光阑位于积分球同一条水平轴线的两端,所述激光器、可变小孔光阑、积分球和透射光探头依次排列,使激光器发射的激光能依次穿过可变小孔光阑、积分球的入口光阑和出口光阑射到透射光探头上,所述散射光探头位于积分球的顶端,积分球的内部设置有样品支架,所述样品支架位于散射光探头的正下方,并能使放置其上的样品位于积分球的中心位置,激光器由工控机控制,透射光探头和散射光探头通过USB连接器连接工控机。
作为优选,所述激光器与控制其开关的激光电源电连,激光电源与控制其温度的激光水冷机连接,激光电源连接工控机并由工控机进行控制。
作为优选,还设置有红光指示器,红光指示器的红光通过激光器后与激光器的激光光斑同轴。
作为优选,所述散射光探头与样品支架之间设置有挡光板。
作为优选,所述激光器与可变小孔光阑之间设置有滤光片。
作为优选,所述滤光片为1064nm窄带滤光片。
作为优选,所述激光器为双级灯泵电光调Q Nd:YAG激光器。
作为优选,所述积分球为300mm积分球,所述积分球的内壁设置有超细颗粒F4粉料涂层。
作为优选,所述激光器通过剪式升降及三维调节台安装在光学平台上。
作为优选,所述滤光片、可变小孔光阑和透射光探头分别通过支架安装在光学平台上。
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