[实用新型]电子元件检查分类设备

说明书

技术领域

本实用新型是提供一种于多个置料装置间设有共用的3Ｄ取像器，并搭配具多个移料器的搬移装置，而提升3Ｄ取像器的使用效能，以及易于分类收置电子元件，进而节省设备成本及增加检查产能的电子元件检查分类设备。 

背景技术

在现今，电子元件于制作完成后，业者是以检查设备对电子元件进行接点、外观、真圆度或型号等检查作业，请参阅图1，为现有电子元件检查设备的示意图，其是于机台11上配置有一具供料区121及载台122的供料器12，其供料区121是容置有盛装待检查电子元件14的料盘13，并以载台122将具待检查电子元件14的料盘13作第一方向（如Ｘ方向）位移载送至移料器15的下方，移料器15是作第二、三方向（如Ｙ、Ｚ方向）位移于载台122上的料盘13取出待检查的电子元件14，并移载至3Ｄ取像器16处，3Ｄ取像器16即对料盘13上的电子元件14进行3Ｄ取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置（图未示出），中央控制装置即对电子元件14进行接点、外观、脚位或真圆度等检查作业，移料器15再将3Ｄ取像完毕的电子元件14放回料盘13，进而依序取出下一批待检查的电子元件14，于各电子元件14完成3Ｄ取像作业后，检查设备是以移盘器17将料盘14移载至一具载台181及收料区182的收料器18处，收料器18是以载台181将料盘13载送至2Ｄ取像器19的下方，2Ｄ取像器19是作第二方向位移对料盘13上的电子元件14进行2Ｄ取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置，中央控制装置即对电子元件14进行型号、商标等检查作业，于各电子元件14完成2Ｄ取像作业后，载台181是将具已检查电子元件14的料盘13载送至收料区182收置；但是，所述检查设备是于一供料器12的侧方配置一3Ｄ取像器16，以对电子元件14进行3Ｄ取像作业，但3Ｄ取像器16的购置成本相当昂贵，若于增设的各供料器12侧方均增配一3Ｄ取像器16，对于整体检查设备而言，势必大幅增加成本，又移料器15是将电子元件14移载至3 Ｄ取像器16取像后，再放回料盘13收置，并待料盘13作第一方向位移，方可于料盘13上取出下一电子元件，但却导致3Ｄ取像器16于移料器15执行取放电子元件14作业时，必须待机空等下一取像的电子元件14，不仅无法发挥3Ｄ取像器16的使用效能，更降低检查设备的生产效能。 

发明内容

本实用新型的目之一，是提供一种电子元件检查分类设备，其包含多个置料装置、取像装置、分类装置、搬移装置及中央控制装置，多个置料装置分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘，取像装置于多个置料装置间设有共用且取像电子元件的3Ｄ取像器，并设有至少一可位移动作且取像电子元件的2Ｄ取像器，搬移装置设有多个移料器，用以将多个置料装置处的待检查电子元件移载至共用的3Ｄ取像器进行取像作业，使得检查分类设备可利用各装置的时序搭配动作，毋须于各置料装置的侧方相对增设3Ｄ取像器，达到大幅节省设备成本的实用效益。 

本实用新型的目之二，是提供一种电子元件检查分类设备，其中，所述搬移装置设有多个移料器，用以将多个置料装置处的待检查电子元件移载至共用的3Ｄ取像器进行取像作业，进而缩减3Ｄ取像器的空等待机时间，以充分发挥3Ｄ取像器的使用效能，达到提升设备生产效能的实用效益。 

本实用新型的目之三，是提供一种电子元件检查分类设备，其中，所述分类装置设有至少一盛装良品电子元件的良品区、至少一盛装不良品电子元件的不良品区及至少一盛装次级品电子元件的次级品区，所述搬移装置设有至少一换料器，用以于多个置料装置及分类装置间补换电子元件，当各置料装置的料盘上的各电子元件执行3Ｄ／2Ｄ取像作业完毕后，中央控制装置控制搬移装置的换料器将置料装置的料盘上的不良品电子元件移载至分类装置的不良品区，并将良品区的良品电子元件补置于置料装置的料盘上，使各置料装置的料盘收置整盘良品电子元件，达到易于分类收料的实用效益。 

为了达到上述目的，本实用新型提供一种电子元件检查分类设备，包含： 

机台； 

多个置料装置：其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘； 

取像装置：其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3Ｄ取像器，用 以对电子元件进行3Ｄ取像作业，另设有至少一2Ｄ取像器，用以对电子元件进行2Ｄ取像作业； 

分类装置：其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区； 

搬移装置：其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3Ｄ取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业；