[实用新型]打火防抖动数字电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及防抖动电路领域，尤其涉及一种打火防抖动数字电路。 

背景技术

在集成电路设计的过程中，为了降低测试的难度和成本，在芯片中加入可测性设计，比如DFT（Design for Test，可测性设计）和BIST（Built-in Self-Test，内建式自测）。这样，设计中不可避免的会使用到一些用于进入某种测试模式关键信号（例如DFT的测试使能信号，RAM BIST的测试使能信号，等等）。在芯片的实际使用过程中，常常会有这样的错误操作，芯片上电（车辆打火时），芯片会错误的进入DFT（Design for Test，可测性设计）模式，或者BIST（Built-in Self-Test，内建式自测）模式。产生这种现象的原因是，芯片上电时，电源域和地域都会有一段不稳定的时间，会导致一些器件的错误翻转，从而导致芯片进入错误的模式。 

为了防止上述现象的发生，现有技术对于此类信号的防抖动电路，如图一所示，由编码器8-1编码器U1和D触发器U2构成。编码器8-1编码器U1的输出与D触发器U2的输入相连，D触发器U2的输出作为测试使能信号。data信号一般是由通信(例如SPI、IIC等通信)配置产生，8-1编码器可以有效的防止通信传输过程中，配置的信号data发生抖动导致的测试信号test_en配置错误，D触发器主要是滤除毛刺的作用。 

实用新型内容

本实用新型为解决芯片上电时，由于器件的抖动导致测试信号输出错误的技术问题，提供一种打火防抖动数字电路。 

本实用新型提供一种打火防抖动数字电路，第一镜像模块和第二镜像模块，用于产生第一镜像模块信号和第二镜像模块信号；比较模块，其分别与第一镜像模块和第二镜像模块连接，用于当第一镜像模块信号和第二镜像模块信号不同时，得到第一比较信号；第一镜像模块信号和第二镜像模块信号相同时，得到第二比较信号；复位模块，其分别与所述比较模块、所述第一镜像模块的复位端和第二镜像模块的复位端连接，用于根据比较模块的第一比较信号，得到复位信号；逻辑输出模块，其分别与第一镜像模块和比较模块连接，用于根据第一镜像模块信号和第一比较信号或者根据第一镜像模块信号和第二比较信号，得到测试信号。 

优选地，所述第一镜像模块包括第一编码器和第一触发器，第一编码器的输出端与第一触发器的输入端连接，所述第二镜像模块包括第二编码器和第二触发器，第二编码器的输出端与第二触发器的输入端连接，所述第一触发器的时钟信号输入端与所述第二触发器的时钟信号输入端分别连接同一时钟信号，所述第一触发器的复位端与所述第二触发器的复位端分别连接同一复位信号。 

优选地，所述第一编码器和第二编码器均为为8位、16位、32位的编码器，所述第一触发器和第二触发器为D触发器。 

优选地，所述比较模块包括一异或门，所述异或门的输入端分别与所述第一和第二触发器的输出端连接，所述异或门的输出端与所述逻辑输出模块的第二输入端连接。 

优选地，所述复位模块包括一或门，所述或门的第一和第二输入端分别接reset信号和所述异或门的输出端，所述或门的输出端与所述第一触发器和第二触发器的复位端连接。 

优选地，所述逻辑输出模块包括一非门和一与门，所述与门的第一输入端与第一触发器的输出端连接，第二输入端与所述非门的输出端连接，所述与门的输出端为测试信号输出；所述非门的输入端与所述异或门的输出端连接。 

本实用新型提供的打火防抖动数字电路，通过设置第一镜像模块和第二镜像模块，当两镜像模块产生不同的信号时，得到复位信号，该复位信号能使两镜像模块复位，从而能够防止在芯片上电过程中，由于电源域和地域的不稳定而导致一些器件发生抖动，导致芯片进入错误的工作模式，从而有效的增加了芯片的稳定性。 

附图说明

图1是本实用新型现有的打火防抖动电路图。 

图2是本实用新型的实施例的电路图。 

图3是本实用新型的实施例中U1发生抖动的电路时序图。 

图4是本实用新型的实施例中U3发生抖动的电路时序图。 

图5是本实用新型的实施例中U2发生抖动的电路时序图。 

图6是本实用新型的实施例中U4发生抖动的电路时序图。 

具体实施方式