[实用新型]在线带材x-射线测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种X射线测量仪，特别涉及一种在线带材x-射线测量装置。 

背景技术

在轧制金属带材的连轧生产线上对轧制中的金属带材进行连续的厚度测量是保证金属带材质量的重要手段。早期使用的测厚仪器是γ射线测厚仪。γ射线测厚仪的缺点是γ射线源是一种放射性物质，管理起来比较麻烦，更重要的是γ射线的背景噪声比较大，响应时间长，测量精度相对较低，取而代之的是X射线测厚仪。 

当前轧钢机或铝冷轧机上，为了实现在线带材的速度测量和带材厚度测量，一般采用的方式是：配置一台（或多台）激光（或白光）测量仪进行带材速度测量，配置一台（或多台）x-射线测厚仪进行带材厚度测量。这样的结果就使得轧钢机或铝冷轧机投资成本增加，而且现行的激光（或白光）测速仪由于受烟雾的影响，时常不能正常工作。 

因此需要一种能同时完成带材速度测量和厚度测量功能的x-射线测量装置。 

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型所要解决的技术问题是提供能同时完成带材速度测量和厚度测量功能的x-射线测量装置；利用x-射线实现带材速度测量，利用一台x-射线测厚仪同时完成带材速度测量和厚度测量功能。 

本实用新型是通过以下技术方案来实现的： 

本实用新型提供的在线带材x-射线测量装置，包括至少一台x-射线测厚仪，所述每个x-射线测厚仪内还设置有频率测量装置，所述频率测量装置用于接收x-射线发射源发射出的且经被测带材反射后的x-射线，所述频率测量装置将接收到的x-射线频率信息输入到处理器，所述处理器根据频率测量装置接收的x-射线频率与x-射线发射源发出的x-射线频率之间的关系计算出被测带材的速度。

进一步，所述频率测量装置为根据多普勒效应来测量移动物体的速度的装置。 

进一步，所述各频率测量装置设置于对应的x-射线测厚仪的发射源内。 

进一步，所述各频率测量装置设置于对应的x-射线测厚仪的接收源内。 

进一步，所述各x-射线为相同频率的x-射线管。 

进一步，所述各x-射线的射线发射极高压相同。 

本实用新型的有益效果在于：本实用新型采用在x-射线测厚仪的发射源或者接收源内安装一套频率测量装置，获取经过被测带材反射后x-射线的频率 ，从而计算被测带材速度V。在一台X-射线测厚仪同时完成测厚和测速两项功能，轧机配置省去一台（或多台）专门用于速度测量的激光测速仪，为用户降低投资成本。 

本实用新型的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本实用新型的实践中得到教导。本实用新型的目标和其他优点可以通过下面的说明书和权利要求书来实现和获得。 

附图说明

为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细描述，其中： 

图1为本实用新型实施例提供的在线带材x-射线测量装置的结构图；

图2为利用多普勒效应的激光测速仪的工作原理图。

具体实施方式

以下将参照附图，对本实用新型的优选实施例进行详细的描述。应当理解，优选实施例仅为了说明本实用新型，而不是为了限制本实用新型的保护范围。 

图1为本实用新型实施例提供的在线带材x-射线测量装置的结构图，如图所示：本实用新型提供的在线带材x-射线测量装置，包括x-射线测厚仪1，所述x-射线测厚仪1内还设置有频率测量装置3，所述频率测量装置3用于接收x-射线发射源发射出的且经被测带材2反射后的x-射线，所述频率测量装置3将接收到的x-射线频率信息输入到处理器4，所述处理器4根据频率测量装置3接收的x-射线频率与x-射线发射源11发出的x-射线频率之间的关系计算出被测带材的速度。 

所述频率测量装置3为根据多普勒效应来测量移动物体的速度的装置。 

多普勒效应是波源和观察者有相对运动时，观察者接受到波的频率与波源发出频率并不相同的现象。 

f'为观察频率，f为波源发射频率；v为波速，v_o为观察者移动速度，v_s为波源移动速度，通过测量波源经过移动平面反射后的频率，进行移动物体的速度测量。如图2所示： 

:被测物体速度，:多普勒频率，：激光波长，K：两束激光交叉夹角的一半，和K为常数，准确测量就可以计算出。