[实用新型]一种取向调试基板有效
| 申请号： | 201220221956.0 | 申请日： | 2012-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN202661755U | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 李辉;赵承潭;邵勇 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1337 | 分类号： | G02F1/1337 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 张颖玲;程立民 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 取向 调试 | ||
1.一种取向调试基板，其特征在于，该取向调试基板包括：
基板、平行的多个条状凸起、取向膜；
所述平行的多个条状凸起位于所述基板上；
所述取向膜位于所述基板和所述平行的多个条状凸起上。
2.根据权利要求1所述的取向调试基板，其特征在于，所述平行的多个条状凸起为金属材料或感光材料。
3.根据权利要求1所述的取向调试基板，其特征在于，
所述平行的多个条状凸起中，最靠近基板边缘的条状凸起与基板的边缘的距离为15cm±1cm。
4.根据权利要求3所述的取向调试基板，其特征在于，
所述平行的多个条状凸起均匀分布在基板上，且所述平行的多个条状凸起之间的距离为3cm～4cm。
5.根据权利要求4所述的取向调试基板，其特征在于，每个条状凸起的截面形状为梯形、或三角形、或矩形。
6.根据权利要求4所述的取向调试基板，其特征在于，
所述凸起的条状块的厚度为2.0mm±0.2mm；
所述凸起的条状块的截面的最宽处的宽度为3.4mm±0.2mm。
7.根据权利要求1所述的取向调试基板，其特征在于，根据取向布的取向方向确定所述条状凸起与所述基板中短边的夹角以及所述条状凸起的长度。
8.根据权利要求7所述的取向调试基板，其特征在于，所述条状凸起与所述基板中短边的夹角为0～90°。
9.根据权利要求1至8任一项所述的取向调试基板，其特征在于，利用光刻工艺形成所述平行的多个条状凸起。
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